金屬納米孔陣列的表面增強(qiáng)拉曼光譜研究.pdf

1、由于拉曼光譜具有：對(duì)樣品無(wú)接觸，無(wú)損傷；樣品無(wú)需制備；快速分析，鑒別各類材料的特性與結(jié)構(gòu)；能合適黑色和含水樣品；可在低溫及高溫條件下測(cè)量；光譜成像速度快、簡(jiǎn)單，以及分辨率高等一系列的優(yōu)點(diǎn)，使得其被廣泛地應(yīng)用于材料物理、生物醫(yī)學(xué)、表面科學(xué)等研究領(lǐng)域中。但是拉曼光譜信號(hào)強(qiáng)度非常弱這一缺點(diǎn)，極大地限制了拉曼光譜的廣泛應(yīng)用。而表面增強(qiáng)拉曼散射的出現(xiàn)，可以很好地解決這一問題。金屬納米顆粒（孔）陣列可以通過(guò)調(diào)節(jié)顆粒（孔）的尺寸、形貌和結(jié)構(gòu)，使其在某

2、一個(gè)波長(zhǎng)發(fā)生表面等離子體共振，從而達(dá)到電場(chǎng)極大的增強(qiáng)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)表面增強(qiáng)拉曼光譜的目的。
　　本論文的工作是從理論上定量研究金膜的菱形納米孔陣列孔的大小對(duì)電場(chǎng)的影響，以此來(lái)探討菱形孔陣列孔尺寸對(duì)拉曼增強(qiáng)的效果。再?gòu)膶?shí)驗(yàn)上驗(yàn)證菱形孔對(duì)拉曼增強(qiáng)的效果。主要內(nèi)容包括以下幾方面：
　　1.借助于FDTD Solutions軟件對(duì)金膜上的菱形孔陣列的電場(chǎng)分布進(jìn)行分析,并以此為依據(jù)來(lái)優(yōu)化菱形孔陣列的尺寸。計(jì)算發(fā)現(xiàn)，LSP對(duì)菱形孔陣列的尺寸