射頻磁控濺射制備Cu摻雜ZnO薄膜的結(jié)構(gòu)及性質(zhì)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文研究Cu摻雜對ZnO薄膜結(jié)構(gòu)、光學(xué)特性和磁學(xué)特性的影響,本文在室溫下,采用射頻磁控濺射法制備Cu摻雜ZnO薄膜,分別對它們的結(jié)構(gòu)、光致發(fā)光性質(zhì)和磁學(xué)性質(zhì)進(jìn)行了研究。 一.室溫和673K下,在Si(111)襯底上制備了Cu-ZnO(CuxZn1-xO,x=0,0.038,0.073,0.145)薄膜,研究了薄膜的結(jié)構(gòu)、光致發(fā)光性質(zhì)和磁學(xué)性質(zhì)。在XRD譜中,薄膜呈現(xiàn)了(002)擇優(yōu)取向,且隨著Cu含量的增多XRD峰位發(fā)生偏移,同

2、時峰強(qiáng)度和半高寬均有所增大,結(jié)合XPS分析,Cu2+離子成功取代了Zn2+離子的位置。當(dāng)摻雜量達(dá)到一定濃度時,在薄膜中將出現(xiàn)Cu單質(zhì),同時通過計算發(fā)現(xiàn)薄膜的晶格常數(shù)c也隨之減小。在Cu-ZnO薄膜的磁性測試中,發(fā)現(xiàn)在室溫和673K條件下制備的薄膜都具有高于300K的居里溫度,由于樣品中大量氧缺陷的存在,我們認(rèn)為所制備的Cu摻雜ZnO薄膜的磁性起源與BMPs模型相關(guān)。 二.室溫和673K下,在石英玻璃襯底上制備了Cu-ZnO(Cu

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