覆蓋陣列的相關(guān)構(gòu)造.pdf

1、在軟硬件的開發(fā)過程中，測試通常是一個需要耗費大量勞力、時間和資源的環(huán)節(jié)。為了降低軟硬件交互測試的成本，Cohen，Dalai，F(xiàn)redman，及Patton提出了由組合設(shè)計生成的交互測試方法.該方法首先確定測試的所有因素及各個因素的可能取值，然后選擇一組測試，要求測試覆蓋任意t個因素的所有可能交互情況.這正好對應(yīng)組合設(shè)計中的覆蓋陣列.覆蓋陣列CA(N；t，k，v)是一個定義在ν元集上的N×k階矩陣，滿足對于每一個N×t階子矩陣，包含ν上

2、的所有t元有序子集至少一次。參數(shù)t稱為覆蓋陣列的強度(strength)。
　　覆蓋陣列的主要研究問題是對于給定的t，k，ν，盡可能的降低覆蓋次數(shù)N，或者是對于給定的t，ν，N，盡可能地增加因素數(shù)k.“t=2”時的覆蓋陣列已經(jīng)被許多人研究過，例如，Katona，Kleitman和Spencer等。Chateauneuf，Kreher，Roux，和Sloane等人對“t=3”的情況進行了研究。然而，“t≥4”時的覆蓋陣列的研究卻很少

3、。這篇文章主要研究“t≥4”時的覆蓋陣列，以及其相關(guān)的組合構(gòu)造。
　　全文共分四章。
　　第一章：綜述了覆蓋陣列的研究背景，當前領(lǐng)域的研究成果和本文的主要結(jié)果。
　　第二章：重點介紹了覆蓋陣列的新構(gòu)造。主要包括兩部分，一是利用組合方法，構(gòu)造CA(N；5，νk，ν)，得出了更好的上界；二是通過引進套娃型覆蓋陣列CA*，用CA*和DCA*構(gòu)造CA，得出了強度大于等于4時覆蓋陣列的一個新構(gòu)造，提供了降低覆蓋陣列的新思路。