基于激光散斑場縱向相關性質的三維形貌絕對測量.pdf

1、隨著現代科學技術的進步，光學三維形貌測量已經獲得了巨大的發(fā)展，因其具有非接觸性、精度高、效率高等特點，已被廣泛應用于各個領域，該技術有著巨大的商業(yè)和應用價值。其中基于結構光投影的三維形貌測量被認為是最有發(fā)展?jié)摿Φ臏y量方法。特別是，利用條紋投影的三維形貌測量技術，因具有測量速度快、精度高等特點而被充分研究和應用。但由于條紋的周期性使得該技術必須在求得相位信息后進行相位解包裹處理，因此一些學者提出了利用數字散斑圖代替周期性條紋圖的三維形貌測

2、量技術。該技術無需解包裹處理，對于存在突變或者復雜面形的物體依然可以重建出其表面形貌。但任何透鏡投影系統都有一定景深，使得超出景深范圍的物體重建結果出現誤差。
　　為了實現對物體的三維形貌絕對測量，避免相位解包裹處理，提出了一種基于激光散斑場縱向相關性質的激光散斑三維形貌絕對測量技術。本文首先通過實驗研究了激光散斑場的縱向相關性質，通過相關運算獲得了散斑圖的縱向深度與橫向偏移量之間的線性關系，針對該實驗中的各個系統參數進行了研究，