Ag-Au-纖蛇紋石復(fù)合材料的制備及其性能的研究.pdf_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、表面增強(qiáng)拉曼光譜( SERS)效應(yīng)在分子檢測(cè)、微電子、醫(yī)學(xué)診斷和醫(yī)學(xué)治療等領(lǐng)域具有極大的應(yīng)用價(jià)值,本文以天然礦物纖蛇紋石為原料,利用鎂熱還原法制備硅納米線(xiàn);采用硅烷偶聯(lián)劑對(duì)其進(jìn)行改性后,自組裝上(使其表面接上氨基帶上負(fù)電荷,靜電吸附帶正電的)金和銀納米粒子,制備 Ag/Au-SiO2復(fù)合材料,并采用 XRD、DSC、SEM、TEM、HRTEM以及 Raman等測(cè)試手段對(duì)其物相結(jié)構(gòu)和形貌特征進(jìn)行了分析。
 ?。?)以天然纖蛇紋石制備

2、的無(wú)定形氧化硅納米線(xiàn)( SiO2 NWs)為模板和氧化劑,鎂粉為還原劑,采用鎂熱還原法制備了系列硅納米線(xiàn),系統(tǒng)的研究了鎂熱還原的溫度對(duì)反應(yīng)產(chǎn)物硅的結(jié)構(gòu)和形貌的影響。研究表明:溫度對(duì)反應(yīng)產(chǎn)物硅的結(jié)構(gòu)和形貌有顯著影響,隨著溫度的上升,樣品的結(jié)晶度先減小后增大;在溫度650℃條件下,硅“繼承”了氧化硅納米線(xiàn)的微觀(guān)結(jié)構(gòu),而隨著溫度升高至700℃納米線(xiàn)的結(jié)構(gòu)出現(xiàn)坍塌,形成硅納米顆粒。
 ?。?)以SiO2NWs為原料,3-氨丙基三乙氧基硅烷

3、偶聯(lián)劑(r-APS)為改性劑,采用溶劑回流法改性 SiO2 NWs,并以改性后的 SiO2 NWs為基質(zhì),AgNO3或 HAuCl4.4H2O為貴金屬前驅(qū)體,NaBH4為還原劑,檸檬酸三鈉為還原劑和表面活性劑,采用自組裝法合成 Ag/Au-SiO2復(fù)合材料。調(diào)整貴金屬前驅(qū)體的濃度、用量控制負(fù)載在 SiO2 NWs上的球形和三角形銀納米粒子,結(jié)合 UiV-vis探討 Ag/Au-SiO2對(duì)對(duì)硝基苯酚的催化性能。
  (3)在Ag-S

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