基于缺陷散射特性的相控陣超聲全聚焦成像方法研究.pdf

1、相控陣超聲通過設置不同的延時法則，可合成不同波束進行缺陷成像檢測，具有掃查范圍大，檢測精度高等特點，是最具應用前景的超聲無損檢測技術之一。隨著硬件技術的發(fā)展，相控陣超聲檢測系統(tǒng)得到了飛速發(fā)展，但相關信號后處理技術的發(fā)展較為緩慢，使得相控陣檢測信號未獲得有效地運用。其中主要的原因是缺乏有效的相控陣傳感器合成波束及傳播模型，對相控陣超聲與缺陷的交互作用認識不足。
　　針對以上問題，本文建立了相控陣超聲檢測的合成波束及其傳播模型，利用有

2、限元仿真對比研究了不同相控陣超聲波束與典型缺陷交互作用的散射場分布規(guī)律，并分析了缺陷散射特性對相控陣超聲成像檢測的影響，以及缺陷散射特性對相控陣超聲檢測工藝制定的意義。
　　在充分研究相控陣超聲與缺陷交互作用的基礎上，通過有限元仿真全陣列采集（FMC）過程，獲取相控陣超聲檢測缺陷的全矩陣數據，根據全聚焦成像（TFM）原理設計了相控陣超聲全聚焦成像軟件，對兩種典型缺陷進行了 TFM成像，并分析了不同缺陷的TFM成像效果及缺陷散射特性