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文檔簡介
1、與錫摻雜氧化銦(ITO)相比,摻鋁氧化鋅(AZO)透明導(dǎo)電薄膜有材料無毒、材料豐富、成本低廉等優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)成為了目前TCO薄膜研究熱點(diǎn)。然而低溫下制備的AZO薄膜的電阻率還沒有達(dá)到ITO的水平,因此降低AZO薄膜的電阻率是一個重要的研究課題。最近有學(xué)者指出摻雜H可以改變AZO薄膜的光電性質(zhì),所以本論文主要圍繞提高摻氫AZO薄膜性能來進(jìn)行。
一、AZO薄膜沉積參數(shù)的優(yōu)化。我們實(shí)驗(yàn)室之前沒有用陶瓷靶、直流磁控濺射方法制備ZnO的研究
2、,因此我們先不摻雜氫氣,通過改變?yōu)R射功率、摻雜氧氣、濺射時間、濺射壓強(qiáng)、襯底溫度來尋找最優(yōu)參數(shù)。
1)濺射功率對AZO薄膜性能的影響。隨著濺射功率的增加(100-230W),AZO薄膜的電阻率減小,最小為5×10-3Ω.cm;在可見光區(qū)的透射率最大為91%;AZO薄膜的擇優(yōu)取向由(002)面轉(zhuǎn)向(103)面;AZO薄膜的表面晶粒增大,晶界減小。
2)摻雜氧氣對AZO薄膜的影響。在濺射過程中通入0.2sccm氧氣,AZ
3、O薄膜的電阻率由7.6×10-3Ω.cm減小到5×10-3Ω.cm;薄膜的透射率有輕微的增加。
3)濺射時間對AZO薄膜性能的影響。隨著沉積時間的增多(10-20min),AZO薄膜的電阻率先減小后增大,濺射時間15min時,薄膜的電阻率最低為4.18×10-3Ω.cm;薄膜在可見光區(qū)的透射率為93%;薄膜厚度變厚,薄膜的表面晶粒變大,致密性更好。
4)濺射壓強(qiáng)對AZO薄膜的影響。隨著壓強(qiáng)的增加(0.4-0.6Pa)
4、,AZO薄膜的電阻率先減小后增大,當(dāng)濺射壓強(qiáng)0.5Pa時,薄膜的電阻率最低為5×10-3Ω.cm;薄膜透射率為92%;薄膜表面的晶粒最致密,且缺陷較少。
5)襯底溫度對AZO薄膜的影響。隨著襯底溫度的增加(100-200℃),AZO薄膜的電阻率減小,最低為2×10-3Ω.cm;薄膜的表面形貌也隨著襯底溫度的升高而變得更致密、晶粒更大、晶界更小。
二、上面最佳參數(shù)的基礎(chǔ)上,在AZO薄膜的制備過程中摻雜氫氣。主要研究氫氣
5、的流量和襯底溫度對AZO薄膜性能的影響。
1)氫氣流量對AZO薄膜性能的影響。隨著氫氣流量的增加(0.4-1.2sccm),薄膜的電阻率先減小后增大,氫氣流量0.8sccm時電阻率最低為3.07×10-3Ω.cm;薄膜在可見光區(qū)的透射率為93%以上。
2)襯底溫度對氫摻雜 AZO薄膜性能的影響。隨著襯底溫度的增加(100-200℃),摻氫 AZO薄膜的電阻率先減小后增大,襯底溫度175℃時電阻率為1×10-3Ω.cm
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