摻鋁氧化鋅透明導電薄膜的制備與特性研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩58頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、摻鋁氧化鋅(AZO)具有原材料價格便宜、無毒、H等離子體環(huán)境中穩(wěn)定性好等優(yōu)點,是一種極具發(fā)展?jié)摿Φ耐该鲗щ姳∧げ牧?,然而,目前AZO薄膜的綜合光電性能還未達到ITO的水平,如何降低AZO薄膜的電阻率仍然是AZO薄膜的一個重要的研究課題。
  本文采用射頻磁控濺射方法制備了AZO透明導電薄膜,研究了襯底溫度對薄膜光電性能的影響,優(yōu)化了AZO薄膜制備的基本工藝參數(shù),隨后對優(yōu)化出的AZO薄膜進行了刻蝕絨面化處理以增強薄膜的光散射作用,提

2、高薄膜太陽能電池的效率。為了降低AZO薄膜的電阻率,本文采用在濺射氣氛中通入一定比例H2的方法對AZO薄膜進行氫化處理,研究了襯底溫度與濺射氣氛中H2含量對氫化AZO薄膜性能的影響。最后將優(yōu)化出的未氫化AZO薄膜、刻蝕的AZO薄膜及氫化AZO薄膜放入PECVD設備中進行了穩(wěn)定性測試。
  結果表明:襯底溫度對氫化、未氫化 AZO薄膜的電學性能影響都較大,而對薄膜在可見光波段的平均透過率影響不大。使用0.5%稀鹽酸對 AZO薄膜進行

3、刻蝕絨面化處理可以有效的增加薄膜的光散射效果,但刻蝕使得薄膜厚度變薄,薄膜的方阻增加。在低溫條件下,氫化處理能有效的降低 AZO薄膜的電阻率,在襯底溫度為100℃的低溫條件下,通過調節(jié)濺射氣氛中 H2的比例,制備出了方阻與電阻率分別為8.0Ω/□、6.0×10-4Ω·cm的高質量氫化AZO薄膜,該電阻值是同等條件下未氫化 AZO薄膜電阻值的1/3不到,但隨著襯底溫度的升高,氫化處理對薄膜電學性能的改善效果逐漸減弱。未氫化AZO薄膜、刻蝕

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論