版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、無(wú)鉛化和微型化已經(jīng)成為電子封裝的發(fā)展趨勢(shì),溫度環(huán)境對(duì)無(wú)鉛焊點(diǎn)的力學(xué)性能及連接可靠性產(chǎn)生了不可忽視的影響。本文通過納米壓痕法對(duì)高溫條件下無(wú)鉛焊料的力學(xué)性能進(jìn)行了研究,并對(duì)高溫時(shí)效條件下無(wú)鉛焊點(diǎn)的拉伸剪切行為進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究。使用有限元方法對(duì)焊點(diǎn)金屬間化合物(intermetallic compound,IMC)微結(jié)構(gòu)模型的斷裂進(jìn)行模擬,分析了IMC層不同微觀形貌對(duì)焊點(diǎn)斷裂行為的影響。
1、對(duì)Sn96.5Ag3Cu0.5無(wú)鉛焊料進(jìn)行
2、回流焊處理,設(shè)計(jì)50℃、70℃、90℃、110℃四個(gè)溫度環(huán)境,采用納米壓痕技術(shù)對(duì)高溫環(huán)境下無(wú)鉛焊料的力學(xué)性能進(jìn)行研究,結(jié)果表明,溫度對(duì)焊料試樣的力學(xué)性能影響顯著。隨著溫度的升高,彈性模量和硬度逐漸降低,焊料發(fā)生軟化;較高溫度下的蠕變應(yīng)力指數(shù)較小,焊料的蠕變抗力降低,其相應(yīng)的蠕變激活能為75.5KJ/mol。
2、為考察Sn-Ag-Cu焊點(diǎn)在高溫環(huán)境下的可靠性,本文設(shè)計(jì)將Sn-Ag-Cu焊點(diǎn)試樣在120℃恒溫環(huán)境下儲(chǔ)存240h和
3、480h。儲(chǔ)存結(jié)束后,為研究溫度時(shí)效對(duì)焊點(diǎn)連接可靠性的影響,使用INSTRON力學(xué)試驗(yàn)機(jī)測(cè)試不同時(shí)效條件下焊點(diǎn)的拉伸與剪切強(qiáng)度??梢钥吹?,時(shí)效時(shí)間的增加使焊點(diǎn)的抗拉強(qiáng)度和剪切強(qiáng)度下降。斷裂時(shí)焊點(diǎn)的應(yīng)變也隨之增大,并綜合掃描電鏡下對(duì)試樣斷口形貌的觀察。得到焊點(diǎn)的斷裂模式從韌性斷裂逐漸變?yōu)榛旌蠑嗔训慕Y(jié)論。
3、使用回流焊技術(shù)實(shí)現(xiàn)焊錫接點(diǎn)互連的過程中,在界面會(huì)出現(xiàn)一層薄薄的偏脆性多晶過渡層——IMC層。在其形成和生長(zhǎng)過程中,晶粒形狀
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 無(wú)鉛激光軟釬焊焊點(diǎn)可靠性研究.pdf
- BGA封裝中的無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性研究.pdf
- 含有限晶粒微小無(wú)鉛焊點(diǎn)的力學(xué)行為.pdf
- 無(wú)鉛焊點(diǎn)低溫超聲互連的機(jī)理及可靠性研究.pdf
- 無(wú)鉛微焊點(diǎn)熱循環(huán)可靠性及壽命預(yù)測(cè)研究.pdf
- 低銀無(wú)鉛微焊點(diǎn)力學(xué)行為及界面IMC演變.pdf
- 倒裝芯片SnAgCu無(wú)鉛焊料焊點(diǎn)的可靠性研究.pdf
- SnAgCu系無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性及相關(guān)理論研究.pdf
- 無(wú)鉛焊點(diǎn)壽命預(yù)測(cè)及IMC對(duì)可靠性影響的研究.pdf
- 提高SnAgCu無(wú)鉛釬料潤(rùn)濕性及焊點(diǎn)可靠性途徑的研究.pdf
- 熱載荷下無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性電測(cè)方法研究.pdf
- 電子封裝中無(wú)鉛焊點(diǎn)的界面演化和可靠性研究.pdf
- 基于焊點(diǎn)形態(tài)及晶粒取向無(wú)鉛互連焊點(diǎn)可靠性有限元分析.pdf
- 超聲作用對(duì)無(wú)釬劑無(wú)鉛焊點(diǎn)組織演變及可靠性影響的研究.pdf
- 低銀無(wú)鉛焊料球柵陣列焊點(diǎn)的熱可靠性研究.pdf
- 無(wú)鉛BGA焊點(diǎn)的隨機(jī)振動(dòng)可靠性及其失效分析.pdf
- 應(yīng)用電阻法進(jìn)行錫基無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性的研究.pdf
- 錫銀系無(wú)鉛焊點(diǎn)在電子封裝中的可靠性研究.pdf
- 無(wú)鉛焊接及可靠性培訓(xùn)
- 板級(jí)無(wú)鉛焊點(diǎn)跌落沖擊載荷下可靠性分析.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論