COG中的ACF粒子光學(xué)自動檢測技術(shù)研究.pdf

1、電子產(chǎn)品的飛速發(fā)展使得液晶器件的應(yīng)用范圍變得十分廣泛。液晶器件的工藝流程較為復(fù)雜，在各個生產(chǎn)環(huán)節(jié)都可能出現(xiàn)缺陷，自動檢測的難度很大，所以在液晶器件的缺陷檢測方面多為人工檢測。隨著科技的進(jìn)步，人們對自動化的需求越來越大，人工檢測形式已經(jīng)滿足不了市場需求，所以近年來工業(yè)生產(chǎn)的自動化一直是各個行業(yè)的研究重點(diǎn)，這也是行業(yè)轉(zhuǎn)型的必然性。市場上多數(shù)IC（Integrated Circuit）器件和液晶盒玻璃的連接使用的是晶粒-玻璃接合技術(shù)（Chip

2、 on Glass，COG），COG中使用一種各向異性導(dǎo)電膜（Anisotropic conductive Film，ACF）連接IC器件和液晶盒玻璃。目前檢測方式主要是人工通過顯微鏡查看位于液晶盒玻璃引腳上的ACF導(dǎo)電粒子數(shù)來進(jìn)行檢測，這種檢測方式效率極低，而且出錯概率很大。本文研究的ACF粒子自動檢測方法能很好地解決人工檢測的不足，檢測效率和正確率滿足工業(yè)現(xiàn)場檢測標(biāo)準(zhǔn)。
　　本文首先對ACF在COG中的使用做了簡要介紹，提出基

3、于機(jī)器視覺的方式來進(jìn)行檢測。在機(jī)器視覺檢測中，主要采用自動光學(xué)檢測，較為安全可靠。其次，對ACF粒子圖像進(jìn)行分析。粒子圖像包含灰度局部極大值和灰度局部極小值，根據(jù)灰度值的極大值和極小值的變化特征檢測粒子。最后，分析粒子個數(shù)和粒子區(qū)域面積的關(guān)系，得出粒子個數(shù)和粒子區(qū)域面積成正比的結(jié)論。以此為依據(jù)，提出了一種基于粒子區(qū)域面積的檢測方法。因為 ACF粒子灰度局部極大值和局部極小值出現(xiàn)的位置相對固定，本文使用了一種按照光照方向的差值法來增強(qiáng)圖像