基于LXI的多功能電參量測(cè)試儀的研究.pdf

1、隨著工業(yè)生產(chǎn)技術(shù)的不斷進(jìn)步，對(duì)工業(yè)生產(chǎn)中各類測(cè)試儀器的要求也不斷提高，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試從人工手動(dòng)測(cè)試向自動(dòng)化測(cè)試發(fā)展，從本地測(cè)試向遠(yuǎn)程測(cè)試發(fā)展。LXI總線技術(shù)是適應(yīng)這種測(cè)試模式轉(zhuǎn)變的一種新的測(cè)試總線技術(shù)。因此，如何實(shí)現(xiàn)多功能電參量測(cè)試儀的LXI總線接口設(shè)計(jì)已經(jīng)成為目前亟待解決的問題。
　　本文首先介紹了測(cè)試儀器的發(fā)展歷程以及未來的發(fā)展趨勢(shì)。同時(shí)，介紹了LXI總線的發(fā)展歷程。根據(jù)LXI總線標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定，給出了多功能電參量測(cè)試儀的LXI接口

2、的硬件設(shè)計(jì)方案;研究了電磁干擾中常見的三種瞬態(tài)干擾，給出了基于LXI總線的多功能電參量測(cè)試儀的抗電磁干擾防護(hù)電路。
　　其次，在軟件設(shè)計(jì)方面，研究了可程控儀器國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)命令SCPI，設(shè)計(jì)了多功能電參量測(cè)試儀的SCPI命令集;通過分析SCPI命令的多種解析方法，提出了適用于單片機(jī)的SCPI命令解析方法，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試儀SCPI命令的快速解析。利用標(biāo)準(zhǔn)功率源FLUKE5500A對(duì)開發(fā)的多功能電參量測(cè)試儀進(jìn)行了技術(shù)指標(biāo)的測(cè)試，通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行了