多功能半導體材料測試儀的設(shè)計.pdf

1、導電類型、方塊電阻和電阻率是半導體材料最重要的特性參數(shù)，通過對其判別和測量，可以掌握不同種樣品中雜質(zhì)濃度的分布情況。因此，在半導體行業(yè)中，必須快速、準確地對硅晶圓片導電類型、方塊電阻和電阻率進行判‘斷、測量和分檔。 本文詳細分析了導電類型、方塊電阻和電阻率測試原理，在比較了幾種測試方法的基礎(chǔ)上，采用了三探針補償法和雙電測組合四探針法。與國內(nèi)廠家現(xiàn)在普遍采用的電流指針偏轉(zhuǎn)法和直線四探針法相比，具有測量精度高、測量無需修正函數(shù)，不受

2、樣品形狀和探針間距的影響，抑制探針有時偏離直線或有縱向游移影響的能力較強等。 本論文通過將導電類型、方塊電阻和電阻率測試方法與單片機μ'nSPTM061A相結(jié)合，設(shè)計出數(shù)字化智能導電類型、方塊電阻和電阻率測試儀，介紹了各部分電路的組成、功能和相應(yīng)的軟件編程。該系統(tǒng)依據(jù)三探針補償法和雙電測組合四探針法原理，采用16位單片機μ'nSPTM061A控制的高穩(wěn)定度可編程恒流源電路和低溫漂、低噪聲可編程放大器電路，以及自動量程轉(zhuǎn)換電路等部