聲學極化子的基態(tài)能量及其自陷轉(zhuǎn)變.pdf

1、自陷電子對了解材料的光學性質(zhì)有非常重要的意義，人們對此也進行了很多的研究。電子與聲學聲子之間的短程相互作用對電子的自陷起著至關(guān)重要的作用。因此，只有求導出電子—縱聲學聲子相互作用的哈密頓量，才能研究聲學極化子自陷的相關(guān)問題。
　　 首先重新求導出三維系統(tǒng)中電子—縱聲學聲子相互作用的新哈密頓量，與Petters等人的結(jié)果進行比較，驗證這種新的求導系統(tǒng)哈密頓量的方法的適用性。
　　 接著對二維聲學極化子及其自陷的問題進行研究

2、，利用電子通過形變勢與聲子的耦合方法導出二維電子—縱聲學聲子相互作用的哈密頓量，再運用Huybrechts變分法計算它的基態(tài)能量。發(fā)現(xiàn)所得的結(jié)果和Farias等人的結(jié)果相同，而這個結(jié)果不符合聲學極化子自陷的一般規(guī)律。因此，在基態(tài)能量的求導過程中，考慮到自然界中并沒有真正意義的二維材料，所謂的二維只是在三維的基礎(chǔ)上一個維度受到束縛其它兩個維度是自由的，類似于二維的一個效果。所以，在最后的積分中加入b(γ)，使求導更貼近實際。運用得出的結(jié)果