通用自動測試系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)的研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代設(shè)備和電器不斷地發(fā)展,尤其是嵌入式等高端、復(fù)雜的平臺產(chǎn)品的不斷換代更新,產(chǎn)品的測試工作變得愈發(fā)繁重。傳統(tǒng)測試手段單一、測試效率低下,測試結(jié)果差強人意。目前國內(nèi)外不少研究人員對電路板組件等產(chǎn)品的測試進行了研究,卻缺乏對參數(shù)、測試步驟和測流程可重配置等通用性的深入研究。傳統(tǒng)設(shè)計多為功能固定的專用測試系統(tǒng),當(dāng)出現(xiàn)產(chǎn)品升級改造等情況時,舊系統(tǒng)便遭淘汰而需重新設(shè)計新的專用系統(tǒng)。造成硬件資源和資金的浪費,阻礙了企業(yè)發(fā)展的腳步。因此,設(shè)計一種

2、通用測試系統(tǒng)對測試質(zhì)量的提升乃至公司規(guī)模的擴大等都有重要的意義。然而通用自動測試系統(tǒng)的設(shè)計和測試過程中同樣會遇到許多問題,如:硬件難以滿足不同類型產(chǎn)品測試的需求,軟、硬件模塊的可配置性差,難以靈活地編輯測試參數(shù)、測試步驟和測試流程,機器視覺圖像采集的自動對焦效率低等。
　　本文分析了通用自動測試系統(tǒng)普遍存在的問題,主要研究了其中三種關(guān)鍵技術(shù),完成了相關(guān)程序的設(shè)計,其中包括:可配置的程序模塊,高速數(shù)據(jù)采集、處理與數(shù)據(jù)存儲程序,自動對

3、焦程序等,還完成了一系列的驗證實驗。在設(shè)計過程中運用了虛擬儀器技術(shù)、基于LabVIEW的高速數(shù)據(jù)采集、分析和存儲技術(shù)、對焦評價理論和自動對焦等相關(guān)技術(shù)。最終實現(xiàn)了多參數(shù)和多程序模塊的靈活配置,高速穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集、處理和記錄,以及1臺主機與2臺測試機之間交互數(shù)據(jù)通信;還實現(xiàn)了速度較快機器視覺監(jiān)測的自動對焦。本論文的工作為下一步的通用自動測試系統(tǒng)研發(fā)提供了良好的基礎(chǔ)。本論文中的參數(shù)和軟件模塊可配置方案,以及變步長對焦評價與峰值相結(jié)合自動對焦