中國錦屏地下實驗室極低本底裝置屏蔽和氡及子體影響研究.pdf

1、暗物質(zhì)得到了國際上很多頂尖科學家的關(guān)注，并且提出了一系列測量暗物質(zhì)的方法，主要包括：間接法和直接法測量暗物質(zhì)，然而這些測量暗物質(zhì)的實驗方法必須在一個本底非常低的情況下才有可能測量到暗物質(zhì)，所以世界上有許多實驗組為了給測量暗物質(zhì)提供良好的測量環(huán)境都把實驗室從地上搬到地下，這樣做的主要目的是為了屏蔽宇宙射線的干擾。而我國錦屏地下實驗室正好做到了這一點，本次論文主要研究的是屏蔽體材料及大廳中的氡濃度對極低本底裝置的影響，本論文研究了以下幾點：

2、
　　(1)本文研究了鉛銅屏蔽體中放射性核素對極低本底裝置的影響，分別模擬了鉛、銅中238U系、232Tu系、40K對極低本底裝置的影響；
　　(2)本文通過使用AlphaGuard電離室測氡儀測量了實驗大廳中的氡濃度，探討了在其他條件一致的情況下，通風設(shè)備對實驗大廳中氡濃度的影響，同時用高純鍺探測器測量了低本底裝置中的氡及氡子體的γ射線，探討了實驗大廳氡濃度對極低本底裝置的影響；
　　(3)根據(jù)高純鍺探測器探測出的氡