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文檔簡(jiǎn)介
1、隱身技術(shù)在現(xiàn)代電子戰(zhàn)中占有十分重要的地位,得到了越來越多的國家的重視和發(fā)展。隨著外形隱身技術(shù)的發(fā)展和新型材料的應(yīng)用,目標(biāo)自身的雷達(dá)散射截面(RCS)已經(jīng)非常小,因而陣列天線已經(jīng)成為其所搭載的低可見平臺(tái)RCS的主要貢獻(xiàn)者。復(fù)雜服役環(huán)境引起的結(jié)構(gòu)變形會(huì)使得陣列天線輻射性能惡化同時(shí)也會(huì)極大的影響陣列天線的散射性能,然而陣列天線RCS計(jì)算復(fù)雜,同時(shí)結(jié)構(gòu)變形對(duì)散射性能的影響難以預(yù)估和計(jì)算,且國內(nèi)外鮮有研究。因此,對(duì)陣列天線結(jié)構(gòu)位移場(chǎng)與其RCS之間
2、耦合關(guān)系的研究將變得非常重要?;诖?,本文深入研究了陣列天線結(jié)構(gòu)位移場(chǎng)與其電磁散射場(chǎng)之間的耦合關(guān)系,分析了結(jié)構(gòu)變形對(duì)陣列天線散射性能的影響。同時(shí),結(jié)合陣列天線輻射場(chǎng)性能,研究了陣列天線輻射和散射綜合方法。本文的主要內(nèi)容如下:
(1)在不考慮陣列天線單元之間的互耦效應(yīng)和邊緣效應(yīng)的情況下,從相位誤差分析的角度出發(fā),建立了陣列天線結(jié)構(gòu)位移場(chǎng)與RCS耦合模型(SD-RCS)。通過將SD-RCS耦合模型計(jì)算結(jié)果和電磁分析軟件FEKO實(shí)體
3、建模仿真的結(jié)果進(jìn)行比較,驗(yàn)證了耦合模型的準(zhǔn)確性和有效性。并結(jié)合 SD-RCS耦合模型,針對(duì)工程中陣列天線陣面變形常出現(xiàn)的馬鞍面變形,分析了結(jié)構(gòu)變形對(duì)于陣列天線散射性能的影響。仿真結(jié)果表明,隨著陣面馬鞍面變形的增大,陣列天線輻射性能下降而散射性能有所改善,當(dāng)陣面最大變形zmax>λ/4時(shí)陣列天線增益下降明顯,同時(shí)RCS縮減明顯。
(2)針對(duì)結(jié)構(gòu)變形會(huì)使得陣列天線輻射性能下降的同時(shí)可以在一定程度上改善其散射性能這一特點(diǎn),基于 SD
4、-RCS耦合模型,提出了陣列天線輻射性能和散射性能綜合優(yōu)化方法。并結(jié)合粒子群優(yōu)化算法(PSO),通過優(yōu)化陣列天線中天線單元的安裝高度,實(shí)現(xiàn)陣列天線輻射和散射性能綜合最優(yōu)。仿真實(shí)例表明,對(duì)于7×7面陣在增益損失1.29dB滿足其輻射性能的前提下,其 RCS縮減量可達(dá)到20.06dBsm,極大改善了陣列天線的散射性能。
(3)針對(duì)傾斜安裝時(shí)陣列天線散射主瓣偏離最大方向,副瓣成為陣列天線被探測(cè)的最大威脅,以及低副瓣對(duì)陣列天線輻射性能
5、的重要性,同時(shí)考慮到以往實(shí)現(xiàn)輻射場(chǎng)低副瓣的方法中,幅度加權(quán)和相位加權(quán)在實(shí)現(xiàn)散射場(chǎng)低副瓣時(shí)效果甚微,以及密度加權(quán)中不等間距陣的不足,基于 SD-RCS耦合模型,提出了通過密度加權(quán)中的稀疏陣同時(shí)實(shí)現(xiàn)輻射場(chǎng)和散射場(chǎng)低副瓣的方法。并結(jié)合遺傳算法(GA),通過優(yōu)化陣列天線單元排布,得到同時(shí)實(shí)現(xiàn)輻射場(chǎng)和散射場(chǎng)低副瓣的最優(yōu)稀疏陣。仿真實(shí)例表明,對(duì)于單元間距為0.5λ,口徑為10λ的等間距矩形柵格圓口陣,通過本文方法使得輻射場(chǎng) E面 MSL為-24.9
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