超高速并行光電模塊的電子干擾以及傳輸信號的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、信息傳輸速率的需求隨著信息量的增加而增大,系統(tǒng)的要求越來越高,作為系統(tǒng)的子系統(tǒng),超高速模塊的誕生也成為大勢所趨,隨著技術的日漸成熟,并行模塊逐步在短距離傳輸中嶄露頭角,并行模塊成本低、易維護,是構建未來低成本,低能耗,高擴展性的光通信系統(tǒng)的必要部件。
  光模塊在走向小型化,高速率,低功耗,低成本,傳輸距離遠的同時,設計難度不斷增加,測試難度和復雜度也隨之增加。本文主要介紹超高速并行光模塊的傳輸信號測試及EMI(Electroma

2、gnetic Interference)的測試。
  并行光模塊測試的難點主要體現(xiàn)在兩個方面。第一個方面,隨著信號速率的提升,測試的難度和復雜度迅速提升。當信號速率達到25G時,傳統(tǒng)的方法難以獲得穩(wěn)定的測試結果。本文提出了一種更加適用的方案,通過增加采集點,增加擬合次數(shù),來提高靈敏度的測試精度。我們的實驗結果表明,該測試方法不論在測試精度上還是測試時間上都有明顯的效果。
  第二個方面,模塊的小型化導致設計密度提高,EMI設

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