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1、電阻抗成像(Electricalimpedancetomography,EIT)技術(shù)將物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)特性通過電特性反應(yīng)出來。EIT技術(shù)中，將一組電極置于物體表面，在注入頻率、大小可調(diào)的微小電流的同時(shí)測(cè)量物體表面相應(yīng)的邊界電壓。通過測(cè)量得到的數(shù)據(jù)，運(yùn)用一定的重建算法，即可得到物體內(nèi)部的電特性，該電特性以電阻抗或電導(dǎo)率的形式表現(xiàn)出來。
研究了電阻抗斷層成像技術(shù)的原理，運(yùn)用Matlab平臺(tái)完成EIT圖像重建。EIT正問題(Forw
2、ardproblem)采用有限元方法(FEM)求解，推導(dǎo)Laplace方程的變分原理，建立有限元方程。運(yùn)用有限元剖分軟件QMG2.02對(duì)仿真區(qū)域進(jìn)行剖分，并對(duì)邊界區(qū)域?qū)崿F(xiàn)加密剖分。EIT逆問題(Inverseproblem)是非線性的，采用基于Tikhonov正則化技術(shù)的修正的Newton-Raphson迭代算法，通過Matlab仿真軟件對(duì)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)處理，改變正則化參數(shù)和迭代次數(shù)，得到成像結(jié)果。
EIT技術(shù)具有實(shí)時(shí)性成像的特
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