數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源加速壽命試驗(yàn)方法研究.pdf

1、國產(chǎn)“數(shù)控系統(tǒng)”的可靠性水平低是造成國產(chǎn)數(shù)控機(jī)床故障率高的重要因素之一。采用日本FANUC或德國SIEMENS數(shù)控系統(tǒng)的高檔型數(shù)控機(jī)床，其平均故障間隔時(shí)間(MTBF)普遍在3000小時(shí)以上;相同的數(shù)控機(jī)床，若僅把數(shù)控系統(tǒng)更換為同類型的國產(chǎn)系統(tǒng)，機(jī)床的MTBF便降至1500小時(shí)以下，不能滿足飛機(jī)、船舶、火力發(fā)電和核電機(jī)組等裝備制造業(yè)使用需求。國內(nèi)高檔數(shù)控機(jī)床使用的數(shù)控系統(tǒng)約有95％依賴進(jìn)口，其中從日本進(jìn)口的約占1/3。為全面提升我國裝備制

2、造業(yè)的自主創(chuàng)新能力和競爭力，亟需提升國產(chǎn)數(shù)控系統(tǒng)的可靠性水平。
　　數(shù)控系統(tǒng)是由開關(guān)電源、工業(yè)PC源等單元，鍵盤、進(jìn)給按鈕等操作部件，以及轉(zhuǎn)換接口等元件組成的一個(gè)工作系統(tǒng)。對(duì)于數(shù)控系統(tǒng)，開關(guān)電源為其它單元和元器件提供電力，若發(fā)生故障，必將導(dǎo)致數(shù)控系統(tǒng)發(fā)生故障、停止工作。為此，數(shù)控系統(tǒng)的可靠性水平在很大程度上取決于開關(guān)電源的可靠性水平。以華中某型數(shù)控系統(tǒng)為例，由故障統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可知，45％～55％的故障是由開關(guān)電源的故障引起。因此，研究

3、開關(guān)電源的失效規(guī)律，建立開關(guān)電源可靠性快速測評(píng)方法和規(guī)范，可為提升國產(chǎn)數(shù)控系統(tǒng)可靠性水平提供技術(shù)支撐。
　　對(duì)開關(guān)電源這類可靠性要求較高的系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品，利用現(xiàn)場統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)和實(shí)驗(yàn)室模擬試驗(yàn)方法進(jìn)行可靠性測評(píng)，會(huì)衍生試驗(yàn)周期長、效率低等問題，而采用加速壽命試驗(yàn)技術(shù)尚缺乏相應(yīng)的試驗(yàn)理論和方法。在上述背景下，對(duì)開關(guān)電源加速壽命試驗(yàn)方法進(jìn)行研究，不僅對(duì)建立數(shù)控系統(tǒng)可靠性快速測評(píng)的方法和規(guī)范具有重要工程價(jià)值，而且對(duì)完善加速壽命試驗(yàn)理論和方法也具有

4、重要的意義。
　　本文以數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源為對(duì)象，對(duì)其加速壽命試驗(yàn)方法進(jìn)行研究，主要研究內(nèi)容與結(jié)論如下:
　　第1章，闡述了論文的研究背景、目的和意義;綜述了加速壽命試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展歷史、國內(nèi)外研究現(xiàn)狀、存在的問題和發(fā)展趨勢;概述了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源可靠性測評(píng)研究現(xiàn)狀和存在的問題;給出了論文的研究思路和主要研究內(nèi)容。
　　第2章，分析了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源的工作原理;總結(jié)了溫度、濕度、電壓、電流應(yīng)力對(duì)數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源可靠性的影響

5、;揭示了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源的故障機(jī)理，為建立開關(guān)數(shù)控系統(tǒng)電源可靠性試驗(yàn)平臺(tái)以及加速壽命試驗(yàn)方案奠定基礎(chǔ)。
　　第3章，揭示了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源的故障模式特征;提出了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源加速壽命試驗(yàn)應(yīng)力的選擇準(zhǔn)則;揭示了恒加、步加和序加試驗(yàn)方法不適用于開關(guān)電源的原因;建立了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源加速壽命試驗(yàn)方法。
　　第4章，基于累積失效模型，建立了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源加速壽命統(tǒng)計(jì)分析模型;基于區(qū)間試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析理論與方法，提出了數(shù)控系統(tǒng)開

6、關(guān)電源壽命分布的推斷方法;依據(jù)數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源壽命特點(diǎn)，提出了可靠壽命的計(jì)算方法;利用遞推和數(shù)學(xué)歸納法，提出了故障概率的計(jì)算方法。
　　第5章，依據(jù)實(shí)際工況，建立了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源可靠模擬試驗(yàn)平臺(tái);建立了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源加速壽命試驗(yàn)方案。
　　第6章，通過對(duì)數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析，獲得了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源的壽命分布模型和故障概率模型;綜合考慮可靠壽命和故障概率指標(biāo)，評(píng)定了數(shù)控系統(tǒng)開關(guān)電源的可靠性水平。