2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁(yè)
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1、隨著數(shù)字集成電路規(guī)模越來(lái)越大，設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜，驗(yàn)證的難度也隨之增加，設(shè)計(jì)新加一項(xiàng)功能，驗(yàn)證增加不止一條測(cè)試案例，實(shí)際項(xiàng)目中驗(yàn)證所占時(shí)間更是高達(dá)整個(gè)項(xiàng)目研發(fā)周期的70％，搭建高效的驗(yàn)證平臺(tái)，開發(fā)優(yōu)秀的驗(yàn)證環(huán)境，成了當(dāng)前集成電路設(shè)計(jì)工作的重要任務(wù)。
　　目前雙界面卡的應(yīng)用在國(guó)內(nèi)乃至國(guó)際迅猛發(fā)展，已經(jīng)證明了雙界面卡應(yīng)用的美好前景。本文就雙界面卡中符合 ISO/IEC14443協(xié)議的非接觸射頻通訊接口模塊驗(yàn)證提出的一種更高效的驗(yàn)證方法，即

2、在傳統(tǒng)的基于 VMM采用隨機(jī)約束激勵(lì)的驗(yàn)證平臺(tái)中，加入高抽象語(yǔ)言 SystemVerilog搭建的參考模型，參考模型提供的黃金響應(yīng)使得對(duì) DUT功能正確性的判定變得更加簡(jiǎn)單高效，參考模型的加入也使得注入錯(cuò)誤的驗(yàn)證得以輕松實(shí)現(xiàn)，在驗(yàn)證平臺(tái)中加入?yún)⒖寄Ｐ痛蠓岣吡蓑?yàn)證效率，同時(shí)也提高了驗(yàn)證平臺(tái)的可重用性能、可移植性，縮短了芯片研發(fā)周期。
　　本論文首先介紹闡述了VMM驗(yàn)證方法學(xué)，之后介紹 ISO/IEC14443通訊協(xié)議以及 DUT的

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