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1、隨著集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模和復(fù)雜度的不斷增大，驗(yàn)證工作越來越困難。驗(yàn)證往往占到整個(gè)產(chǎn)品開發(fā)周期的70%，成為了現(xiàn)代數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)周期的瓶頸。如何快速地搭建一個(gè)強(qiáng)大、高效、靈活、可擴(kuò)展性好的驗(yàn)證平臺(tái)成為驗(yàn)證工程師們關(guān)注的重點(diǎn)。 本文的研究目標(biāo)：在掌握OLT（Optical Line Terminal）芯片中UGTC模塊測(cè)試要求的基礎(chǔ)上，研究基于VMM（Verification Methodology Manual）驗(yàn)證方法學(xué)實(shí)現(xiàn)UGTC模
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