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文檔簡介
1、本論文主要研究內(nèi)容為以Zn0薄膜為有源層,Mg0為絕緣層的薄膜晶體管(ZnO-TFT),研究了不同工藝參數(shù)對晶體管電學(xué)性能的影響。
首先,采用射頻磁控濺射工藝在ITO玻璃襯底上濺射Mg薄膜后退火氧化得到Mg0薄膜。利用不同的工藝參數(shù),通過對其表面形貌、絕緣性能和透光率的測試,得出了Mg0薄膜最佳工藝參數(shù)。通過研究發(fā)現(xiàn),在濺射功率為200W,濺射氣壓為3Pa時,制備的 Mg0薄膜質(zhì)量最佳。
其次,利用射頻磁控濺射在已制
2、備好的Mg0薄膜上制備Zn0薄膜,研究不同制備參數(shù)(濺射功率、濺射氣壓、氬氧比、襯底溫度)對薄膜的晶體結(jié)構(gòu)、光學(xué)性能的影響規(guī)律。結(jié)果表明:各種濺射工藝條件下制備的Zn0薄膜都沿(002)方向擇優(yōu)生長,對可見光的透過率均大于80%,光學(xué)禁帶寬度在3.30eV附近。
最后,在Zn0薄膜上通過掩膜蒸發(fā)法制備Al電極,形成ITO/ MgO/ZnO/AI底柵頂接觸型ZnO-TFT,并對不同制備參數(shù)下制備的器件的輸出特性曲線和轉(zhuǎn)移特性曲線
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