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文檔簡介
1、有源相控陣雷達已經(jīng)成為下一代雷達發(fā)展的必然趨勢,是軍事電子裝備的重要部分,天線陣面內(nèi)排布的 T/R組件數(shù)量眾多,其效率又始終低于30％,T/R組件的可靠性設(shè)計成為有源相控陣雷達設(shè)計的一個重點和難點。對于有源相控陣天線來說,影響其可靠性指標的一個重要因素就是元器件的工作溫度。因此,分析溫度對電子器件性能的影響并給出相應(yīng)的作用曲線,對高性能的有源相控陣天線研制就至關(guān)重要。
T/R組件是有源相控陣天線的關(guān)鍵,其性能在很大程度上決定了
2、有源相控陣雷達的性能。優(yōu)良的熱設(shè)計可以使 T/R組件的工作效率大大提高,分析溫度對 T/R組件電性能的影響成為了天線設(shè)計的前提。本文重點研究 T/R組件中的關(guān)鍵器件:移相器、高功率放大器、低噪聲放大器的組成和工作原理,并以微波 LNA和 S波段五位數(shù)字移相器等器件的電路為研究對象,通過研究溫度對電路中電阻、電容、電感等元器件性能的影響,仿真不同溫度下電路,得到溫度對 T/R組件電性能的影響曲線以及函數(shù)關(guān)系式。從研究中發(fā)現(xiàn)溫度對 T/R組
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