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文檔簡介
1、在現(xiàn)代電子測試技術(shù)領(lǐng)域,從最基本的電子元器件性能測試,到大型電子裝備系統(tǒng)性能綜合評估,都需要高性能的標(biāo)準(zhǔn)信號發(fā)生器。譬如,頻譜分析儀中需要本振源和跟蹤源,網(wǎng)絡(luò)分析儀中需要激勵源。在電子對抗設(shè)備中,它可以作為干擾信號源。所以信號源性能的好壞直接關(guān)系到電子系統(tǒng)性能的優(yōu)劣。本課題的主要目的就是設(shè)計一個寬頻率范圍、小頻率步進(jìn)、快速的頻率跳變時間的合成掃頻信號源。
本文在詳細(xì)的比較各種方案之后,總結(jié)了各種頻率合成技術(shù)的優(yōu)缺點,指出了現(xiàn)在
2、頻率合成技術(shù)的主要發(fā)展方向是DDS+PLL頻率合成技術(shù)以及小數(shù)分頻技術(shù)。DDS+PLL頻率合成技術(shù)的優(yōu)點是頻帶寬、步進(jìn)小、相噪低和快速的頻率跳變能力,但是其缺點是雜散性能不足;小數(shù)分頻頻率合成技術(shù)具有寬頻帶、小步進(jìn)、低雜散、低相噪的特點;本課題最終采用的方案是DDS+PLL頻率合成技術(shù),與傳統(tǒng)的DDS+PLL頻率合成技術(shù)相比,本方案設(shè)計中DDS用做小數(shù)分頻,而不是傳統(tǒng)的當(dāng)做時鐘來使用,這樣結(jié)合了小數(shù)分頻和DDS+PLL頻率合成技術(shù)的特點
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