光纖硬盤模擬卡研發(fā)及應(yīng)用.pdf

1、獨(dú)立冗余磁盤陣列（RAID，Redundant Array of Independent Disk），能提供比單個(gè)硬盤更高的存儲(chǔ)性能并提供數(shù)據(jù)備份技術(shù)。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展，為了提高計(jì)算機(jī)的整體數(shù)據(jù)流量，磁盤陣列的發(fā)展不斷完善，同時(shí)也給存儲(chǔ)陣列的測(cè)試帶來了一些問題。由于對(duì)存儲(chǔ)陣列的測(cè)試需要用到大量硬盤，而硬盤在測(cè)試中容易損壞且成本較高，因此設(shè)計(jì)中提出了一種光纖硬盤模擬卡(FCLB)代替硬盤用于存儲(chǔ)陣列的環(huán)境應(yīng)力篩選測(cè)試(ESS)中。

2、FCLB的設(shè)計(jì)不僅提高了測(cè)試效率而且大大降低了成本，使得磁盤陣列的生產(chǎn)周期更加短暫，因此效益更高。
　　文章提出了一種 FCLB的結(jié)構(gòu)，并將其應(yīng)用于存儲(chǔ)陣列的環(huán)境應(yīng)力篩選測(cè)試中。首先闡述了磁盤陣列的結(jié)構(gòu)和原理以及環(huán)境應(yīng)力篩選測(cè)試的原理以及測(cè)試方法；然后提出了這種 FCLB系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)原理，分析了系統(tǒng)中涉及到的主要硬件 BCM8422和 PIC18F6520的功能，并同時(shí)對(duì)設(shè)計(jì)完成的結(jié)構(gòu)進(jìn)行了單片機(jī)方面的設(shè)計(jì)以及相關(guān)應(yīng)用程序的編

3、寫。對(duì) FCLB的驗(yàn)證成功之后，將其應(yīng)用到存儲(chǔ)陣列中的環(huán)境應(yīng)力測(cè)試中，包括隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試和高變溫率的溫變循環(huán)測(cè)試。并利用信號(hào)完整性（SI）的PASS和FAIL原則對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行了判定。
　　結(jié)合富士康公司的生產(chǎn)工藝將FCLB設(shè)計(jì)制造成PCB板，最后得到的FCLB產(chǎn)品比一般的硬盤要輕。其中 FCLB在隨機(jī)振動(dòng)下能驗(yàn)證成功，F(xiàn)CLB在溫度為0~70℃時(shí)也能驗(yàn)證成功。將其應(yīng)用到環(huán)境應(yīng)力篩選測(cè)試工站中的測(cè)量結(jié)果也表明FCLB代替硬盤的應(yīng)用節(jié)