面向移動(dòng)應(yīng)用的微架構(gòu)無關(guān)的負(fù)載特征參數(shù)提取與分析.pdf

1、針對(duì)測(cè)試程序不斷的增長，通過研究測(cè)試程序的內(nèi)在特征來選取代表性的測(cè)試程序子集是必不可少的，對(duì)于移動(dòng)設(shè)備的硬件平臺(tái)如CPU、架構(gòu)方案、應(yīng)用程序的優(yōu)化具有很大的指導(dǎo)意義。已有研究者開發(fā)了MICA模擬器，可用來獲取運(yùn)行在x86 CPU上測(cè)試程序的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征，僅需測(cè)量有限的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征參數(shù)就可以涵蓋整個(gè)測(cè)試集的基本信息，大大減少了測(cè)試開銷。不過對(duì)于獲取運(yùn)行在ARM CPU上嵌入式基準(zhǔn)測(cè)試程序的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征，還存在許多問題。<

2、br>　　本文基于以上論述，首先選取了可運(yùn)行ARM指令集的gem5模擬器，同時(shí)設(shè)計(jì)了提取嵌入式基準(zhǔn)測(cè)試程序微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征的算法，之后選取了非常具有代表性的嵌入式測(cè)試集Mibench(自由的基準(zhǔn)測(cè)試程序組)中的測(cè)試程序，將其運(yùn)行在gem5模擬器上，由于統(tǒng)計(jì)出的指令會(huì)拆分成多條微操作，微操作會(huì)影響計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)，會(huì)出現(xiàn)一定的誤差，所以需要觀察結(jié)果中的trace信息，以此來驗(yàn)證統(tǒng)計(jì)結(jié)果的正確性;部分特征參數(shù)在gem5中缺少定義，比如工作集大

3、小、空間局部性、時(shí)間局部性等，需要在模擬器內(nèi)構(gòu)建微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征插件來對(duì)微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征參數(shù)進(jìn)行有效的統(tǒng)計(jì);然后以根特大學(xué)在MICA模擬器上提取的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征參數(shù)為基準(zhǔn)，來驗(yàn)證在gem5模擬器上提取的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征參數(shù)的正確性，同時(shí)在gem5中通過改變Cache的不同配置來驗(yàn)證提取的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征參數(shù)是否與具體的微架構(gòu)無關(guān)，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，基于兩種不同平臺(tái)提取的微架構(gòu)無關(guān)負(fù)載特征參數(shù)的趨勢(shì)相似度達(dá)到90％以上;更改gem