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文檔簡介
1、電磁兼容(EMC)測試方法以及測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，直接影響到企業(yè)受試產(chǎn)品合格與否。半電波暗室(SAC)是研究EMC及提高EMC技術(shù)必不可少的最重要的科學(xué)手段之一。半電波暗室可以用來取代開闊試驗場，對測試設(shè)備(EUT)進行輻射發(fā)射和輻射抗擾度試驗。為進一步提高半波暗室檢測能力，綜合國內(nèi)外半電波暗室的建設(shè)方案，對現(xiàn)有的半波暗室進行了升級改造。本課題以歸一化場地衰減(NSA)參數(shù)為例，參照ANSI C63.4-2003標(biāo)準(zhǔn)提出了一個簡化
2、的NSA計算模型及其測試方法，研究結(jié)果表明理論數(shù)據(jù)和測試數(shù)據(jù)基本相符。
本課題針對現(xiàn)有暗室設(shè)計存在的問題，采取在局部改換點連接部件的方法，以改善其電氣連接性能。針對暗室使用過程中出現(xiàn)的一些問題，采取標(biāo)準(zhǔn)化EUT及其線纜的擺放，暗室局部區(qū)域更改或添加新的薄型吸波材料等各種措施，以背景噪聲作為衡量指標(biāo)，對暗室的各個部件進行整改處理。對于場地性能參數(shù)波動引起測試誤差，構(gòu)建一個日常校驗系統(tǒng)，以定量方式監(jiān)測暗室的性能，使其保持在一個
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