γ能譜無源分析技術(shù)初探.pdf

1、分類號(hào)：密級(jí)：學(xué)校代碼：10165學(xué)號(hào)：201010912遣享師范大學(xué)碩士學(xué)位論文7／能譜無源分析技術(shù)初探作者姓名：學(xué)科、專業(yè)：研究方向：導(dǎo)師姓名：甄璐寧粒子物理與原子核物理核物理王崇杰教授2013年4月遼寧師范大學(xué)碩士學(xué)位論文摘要Y能譜分析技術(shù)是分析放射性的重要技術(shù)手段之一，在核物理、核能應(yīng)用以及環(huán)境放射性監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。在傳統(tǒng)的丫能譜分析中，通常采用全能峰面積分析法和相對(duì)比較法，即通過數(shù)據(jù)處理技術(shù)求出丫能譜中特征峰的峰面積

2、，再利用未知樣品譜峰面積和標(biāo)準(zhǔn)源峰面積之比以及標(biāo)準(zhǔn)源的放射性活度求出未知樣品中放射性核素的活度。由于采用標(biāo)準(zhǔn)源，因此分析方法的成本相對(duì)較高，標(biāo)準(zhǔn)放射源的制作及日常維護(hù)也很復(fù)雜和繁瑣。Y能譜無源分析技術(shù)則是采用通過蒙特卡羅方法模擬的標(biāo)準(zhǔn)源y能譜代替標(biāo)準(zhǔn)源實(shí)驗(yàn)測(cè)量譜，再利用全局優(yōu)化算法一模擬退火算法對(duì)未知樣品y能譜進(jìn)行全譜分析，最終得到未知樣品中放射性核素的活度。本文工作的主要內(nèi)容如下：1利用HPGeY探測(cè)器測(cè)出226Ra、232Th、40

3、K三種分立標(biāo)準(zhǔn)源y能譜、標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境樣品的y能譜以及實(shí)驗(yàn)室本底譜；2運(yùn)用蒙特卡羅(MonteCarlo)方法分別模擬實(shí)驗(yàn)室條件下的226Ra、232Th、40K三種標(biāo)準(zhǔn)源Y能譜和實(shí)驗(yàn)室本底譜，并與實(shí)驗(yàn)測(cè)量譜進(jìn)行比較。3用模擬分立標(biāo)準(zhǔn)源y能譜代替實(shí)測(cè)標(biāo)準(zhǔn)源丫能譜，采用基于模擬退火算法的y能譜全譜分析技術(shù)，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品譜進(jìn)行分析。分析結(jié)果雖然存在一定誤差，但也很好地表明無源探測(cè)技術(shù)是有效可行的。本文工作中沒有考慮譜漂移的影響，在此工作基礎(chǔ)上，對(duì)譜