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文檔簡介
1、導彈飛行試驗是檢測導彈總體性能的重要手段。為了獲取導彈發(fā)射飛行過程中內(nèi)部各系統(tǒng)的工作狀態(tài)參數(shù)和環(huán)境參量數(shù)據(jù),就需要在導彈上加裝各種傳感器,安裝類似黑匣子的數(shù)據(jù)采集存儲系統(tǒng),記錄飛行姿態(tài)、電源、氣源、測量、控制和執(zhí)行等系統(tǒng)的工作狀態(tài),并以此數(shù)據(jù)來評測導彈的性能。
本論文所述的彈載多參數(shù)采集存儲裝置作為一種彈載測試系統(tǒng),采用存儲測試技術,以FPGA為主控單元,以FLASH為存儲器,在導彈發(fā)射及飛行過程中對振動、過載、溫度等多個環(huán)境
2、參量以及通過CAN總線的方式對彈上控制系統(tǒng)數(shù)字量信息進行采集、存儲。飛行試驗結束,回收FLASH存儲器,讀出數(shù)據(jù),供后期分析。
本文主要根據(jù)任務要求,分析了此彈上多參數(shù)采集存儲裝置設計中的關鍵技術,難點問題,提出了總體設計方案,闡述了數(shù)據(jù)記錄器各部分電路的軟、硬件設計。
針對模擬量與數(shù)字量數(shù)據(jù)要同時可靠存儲在FLASH中的問題,文中提出了FPGA片內(nèi)FIFO的設計使用和信號混合編幀存儲的方法,減少了系統(tǒng)外圍器件,提高
3、了系統(tǒng)集成度。針對存儲器可靠回收的問題,提出了存儲器模塊單獨防護的方案。對存儲模塊進行最小化設計,并在結構設計上對其進行重點防護,保證記錄數(shù)據(jù)的有效回收。通過地面讀數(shù)裝置,實現(xiàn)了與上位機的USB總線數(shù)據(jù)傳輸。
結合本系統(tǒng),從PCB布局、布線、接地、去耦、濾波以及電磁屏蔽等方面對電磁兼容性設計進行了綜合闡述。聯(lián)試試驗表明,本系統(tǒng)符合彈上系統(tǒng)的電磁兼容性要求,經(jīng)過實際飛行試驗,得到了很好的驗證。
本文在最后介紹了此彈上多
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