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文檔簡介
1、南昌大學(xué)碩士學(xué)位論文As2S8非晶態(tài)半導(dǎo)體薄膜波導(dǎo)的光學(xué)性質(zhì)研究姓名:林合山申請學(xué)位級(jí)別:碩士專業(yè):光學(xué)工程指導(dǎo)教師:鄒林兒20110610AbstractABSTRACTChalcongenidesemiconductorglassisoneofthebestpotentialmaterialsofall。opticalswitching,ithasawidefieldofapplicationsinoptoelectronieint
2、egrateddevicessuchasinfraredelectroopticmodulatora11opticaldevicesofopticalcommunicationbandandSOon,foritslargenonlinearrefractiveindexwideinfraredtransmissionwindowandgoodglassformingabilityThisarticlestudiestheopticalp
3、ropertiesofAs2S$amorphoussemiconductorthinfilmwaveguideuponlightirradiationandannealing,mainlyforthechangesofitsrefractveindexandthicknessThispaperfocusesontheexoperimentalstudyofthechangesofrefractiveindexandthicknessof
4、theAs2SsamorphoussemiconductorthinfilmwaveguideuponprocessesoflightirradiationandanealingWeobservetheeffectofrefractiveindexincreaseofAs2S8amorphoussemiconductorthinfilmirradiatedbyUVlightTherefractiveindexincreaseverget
5、osaturationpoint謝ththeirradiationtimeincrease,andreachsaturationpointafter70minutesOntheotherhand,theannealingprocessisusedtostudytherefractiveindexincreaseeffectofasdepositedAs2Ssfilm,therefractiveindexincreaseinducedby
6、annealingofAs2Ssfilmisfoundsignificantwhentheannealingtemperatureexceeds160℃Also,weobservethatthethicknessofAs2S8filmdecreasesduringUVlightirradiationandannealingTheamountofthedecreaseofthicknesscausedbyirradiationofAs2S
7、8filmtendsnottochange,whilethethicknessdecreasecausedbyannealingisfoundmoreapparentwhentheannealingtemperaturereaches160“CInaddition,therefractiveindexoftheAs2S8filmofirradiationsaturationstateiSobservedtobenearlyinvaria
8、ntwhentheannealingtemperatureisbelow160。C,whileitisapparentlydecreasingwhenthetemperatureishigherthan160。CThatistosaytherefractiveindexofAs2S8filmisreversiblewiththeCO—actionofirradiationandannealingInadditiontherefracti
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