濕熱載荷下無(wú)鉛焊點(diǎn)電阻應(yīng)變研究.pdf_第1頁(yè)
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1、隨著無(wú)鉛焊料應(yīng)用的普及,無(wú)鉛焊點(diǎn)的可靠性問(wèn)題備受關(guān)注。因此各種無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性實(shí)驗(yàn)也相應(yīng)提出來(lái)。電子元器件在實(shí)際使用環(huán)境中同時(shí)受到濕熱的影響。濕熱在焊點(diǎn)失效因?yàn)橹姓剂撕艽蟊壤?因此有必要在濕熱同時(shí)加載的情況下,研究焊點(diǎn)的可靠性。
   本文首先簡(jiǎn)述了無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性的研究現(xiàn)狀,分析了研究無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性的重要性,概述了濕熱載荷下無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性研究的現(xiàn)狀及研究意義,分析了無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性電測(cè)方法的可行性以及電測(cè)方法的研究現(xiàn)狀。研究探討了無(wú)

2、鉛焊點(diǎn)(SnAgCu)在單獨(dú)濕、熱載荷下以及共同作用下無(wú)鉛焊點(diǎn)的失效機(jī)制。根據(jù)濕熱載荷下裸露無(wú)鉛焊點(diǎn)的失效機(jī)制,建立起一個(gè)簡(jiǎn)單焊點(diǎn)斷裂模型,再推導(dǎo)了無(wú)鉛焊點(diǎn)損傷與電阻應(yīng)變的關(guān)系,為濕熱載荷下無(wú)鉛焊點(diǎn)電阻應(yīng)變特性研究提供理論基礎(chǔ)。在微電阻測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了濕熱載荷下焊點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng);提出用五探針差分法代替四探針微電阻測(cè)試法,并通過(guò)實(shí)驗(yàn)證明了五探針差分法的優(yōu)點(diǎn)。制作長(zhǎng)寬各1mm、厚度不等的SnAgCu焊點(diǎn)試樣,采用五探針差分法分別進(jìn)行了高

3、低溫循環(huán)、高溫循環(huán)、高溫保溫低濕度實(shí)驗(yàn)(相對(duì)濕度近似為零),以及低溫濕度循環(huán)、中溫濕度實(shí)驗(yàn)。采用Origin軟件對(duì)焊點(diǎn)試樣測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)學(xué)處理,結(jié)果表明:1、焊點(diǎn)電阻應(yīng)變隨著循環(huán)溫度范圍的增大,變化范圍也增大;2、在升溫與降溫過(guò)程中,電阻應(yīng)變曲線出現(xiàn)遲滯回線現(xiàn)象,并且升降溫的范圍越大,遲滯回線面積越大;3、隨著溫度循環(huán)次數(shù)的增加,焊點(diǎn)電阻及電阻應(yīng)變峰值都有上升的趨勢(shì),與蠕變理論相符合;4、在短時(shí)間內(nèi),焊點(diǎn)電阻應(yīng)變不隨濕度的變化而變化,因

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