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文檔簡介
1、集成電路工藝飛速發(fā)展,芯片設(shè)計的規(guī)模和復(fù)雜度已經(jīng)不可同日而語,傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法對當(dāng)前復(fù)雜度的設(shè)計不再適用,驗(yàn)證已成為整個芯片開發(fā)過程的瓶頸。事務(wù)級驗(yàn)證、帶約束隨機(jī)激勵生成、覆蓋率驅(qū)動的驗(yàn)證、驗(yàn)證IP、基于斷言的驗(yàn)證以及高級驗(yàn)證方法學(xué)等成為當(dāng)前硬件驗(yàn)證的主流技術(shù),其中,基于斷言的功能驗(yàn)證技術(shù)具有代碼簡潔、可以快速定位設(shè)計缺陷等優(yōu)點(diǎn),成為一種重要的驗(yàn)證技術(shù)。
本文研究了基于斷言的PCI總線控制器核的功能驗(yàn)證問題,引入配置圖描述P
2、CI總線控制器的配置過程,并提出基于配置圖的事務(wù)生成算法,并設(shè)計和實(shí)現(xiàn)了基于斷言的驗(yàn)證IP。論文首先對當(dāng)前驗(yàn)證技術(shù)存在的問題、面臨的挑戰(zhàn)以及主流的高級驗(yàn)證技術(shù)進(jìn)行了分析,然后以PCI總線控制器核為待驗(yàn)證對象,詳細(xì)描述了制定驗(yàn)證計劃、進(jìn)行測試需求分析、編制測試用例以及搭建驗(yàn)證平臺的過程。為了提高驗(yàn)證的完整程度和激勵生成效率,提出了基于配置圖的事務(wù)生成算法,實(shí)現(xiàn)PCI從設(shè)備接口事務(wù)的高效生成。最后,基于VMM架構(gòu)設(shè)計了基于斷言的驗(yàn)證IP,實(shí)
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