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文檔簡介
1、當前集成電路工藝技術的快速發(fā)展沖擊著VLSI CAD技術,即CAD軟件的發(fā)展落后于集成電路工藝技術的發(fā)展.這就要求研究人員根據(jù)目前的工藝技術不斷改進布局布線、邏輯綜合及驗證工具,開發(fā)出更加適合VLSI產(chǎn)業(yè)發(fā)展的物理設計算法及可靠的集成電路設計軟件產(chǎn)品.本文即是在這個思想的引導下展開的,主要研究內(nèi)容如下:1.系統(tǒng)闡述了VLSI CAD技術的發(fā)展及集成電路物理設計的主要內(nèi)容,對物理設計中幾個重要階段(如電路劃分、標準單元布局和時鐘布線)中所
2、采用算法的研究進展做了詳細介紹,同時在第二章介紹了物理設計的算法基礎.2.在電路劃分問題的研究中,先后提出了K-L改進劃分算法、基于聚類技術的F-M電路劃分算法、不同編碼的遺傳算法設計及混合式遺傳電路劃分算法,前兩種方法均為傳統(tǒng)啟發(fā)式算法的改進,較之原有算法得出的結果有所改進.3.針對標準單元布局問題,提出了一種適應性模擬退火算法,在傳統(tǒng)的模擬退火算法中引入適應性初始溫度和適應性搜索區(qū)域的概念,并對標準單元布局中目標函數(shù)中的懲罰項作出相
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