基于VMM覆蓋率導(dǎo)向驗(yàn)證方法的研究和應(yīng)用.pdf

1、隨著集成電路規(guī)模的擴(kuò)大,復(fù)雜度的提高,驗(yàn)證的難度也越來越大,據(jù)不完全統(tǒng)計(jì),驗(yàn)證的時(shí)間大約占據(jù)整個(gè)產(chǎn)品開發(fā)周期的75％。僅依賴單一的覆蓋率驗(yàn)證方法,比如代碼覆蓋率驗(yàn)證、功能覆蓋率驗(yàn)證、斷言覆蓋率驗(yàn)證,已經(jīng)不能滿足集成電路設(shè)計(jì)的要求,因此對驗(yàn)證方法的研究具有很高的研究價(jià)值和極其重要的現(xiàn)實(shí)意義。
　　 本論文主要使用System Verilog硬件設(shè)計(jì)和驗(yàn)證語言,基于VMM驗(yàn)證平臺,圍繞覆蓋率導(dǎo)向驗(yàn)證方法進(jìn)行研究,并將該驗(yàn)證方法應(yīng)用到

2、多功能車輛總線控制器(MVBC)的驗(yàn)證中。
　　 論文首先對覆蓋率導(dǎo)向驗(yàn)證方法近年來的研究發(fā)展進(jìn)行了分析和總結(jié)。簡單分析了覆蓋率導(dǎo)向驗(yàn)證方法的基本原理,并對VMM驗(yàn)證平臺與傳統(tǒng)驗(yàn)證平臺的特性進(jìn)行了對比分析。
　　 其次,在VMM驗(yàn)證方法學(xué)基礎(chǔ)上,詳細(xì)的介紹了覆蓋率導(dǎo)向驗(yàn)證方法的基本原理。從代碼覆蓋率、建立功能覆蓋率模型和響應(yīng)檢查機(jī)制,論述了覆蓋率導(dǎo)向驗(yàn)證方法的實(shí)現(xiàn)過程,提出提取覆蓋點(diǎn)的方法及如何通過分析覆蓋率屬性關(guān)系搭建