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文檔簡介
1、本論文重點(diǎn)研究集成電路開發(fā)的驗(yàn)證技術(shù)。隨著集成電路技術(shù)的高速發(fā)展,芯片設(shè)計(jì)的規(guī)模越來越大,功能越來越復(fù)雜,致使電路設(shè)計(jì)周期的延長以及邏輯功能錯(cuò)誤發(fā)生率攀升,從而給芯片開發(fā)帶來更大的風(fēng)險(xiǎn)。驗(yàn)證工作在整個(gè)集成電路開發(fā)中的地位越來越重要,而設(shè)計(jì)的復(fù)雜度和規(guī)模增大也使驗(yàn)證工作的難度逐步增加,當(dāng)前,大規(guī)模集成電路開發(fā)的前端設(shè)計(jì)流程中,驗(yàn)證工作已經(jīng)占到總工作量的60%-70‰成為集成電路設(shè)計(jì)開發(fā)中的瓶頸,找到高效、可行的驗(yàn)證方法非常重要。
2、 論文首先介紹驗(yàn)證的基本定義和分類。探討了功能驗(yàn)證方法、基于HDL語言的直接驗(yàn)證方法以及面對對象的驗(yàn)證方法;高級的驗(yàn)證方法-基于覆蓋率驅(qū)動的自動化驗(yàn)證平臺Specman Elite驗(yàn)證方法,使用這種方法驗(yàn)證一個(gè)多路理由器的IP核設(shè)計(jì)。
論文研究開發(fā)基于仿真的specman驗(yàn)證流程。首先對多路路由器的協(xié)議及設(shè)計(jì)詳細(xì)規(guī)范進(jìn)行分析,提出電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證計(jì)劃。然后根據(jù)系統(tǒng)級驗(yàn)證計(jì)劃從中提取驗(yàn)證目標(biāo)要求。開發(fā)步驟包括:1)根據(jù)設(shè)計(jì)
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