超短脈沖電流處理鐵基非晶結(jié)構(gòu)缺陷與性能的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、該文系統(tǒng)地研究是超短脈沖電流對(duì)Fe<,78>Si<,9>b<,13>非晶合金結(jié)構(gòu)缺陷運(yùn)動(dòng)的影響.超短脈沖電流處理前后的正電子湮沒(méi)壽命譜、穆斯堡爾譜及電阻測(cè)量的研究結(jié)果表明,類單空位型缺陷的遷移和湮沒(méi)需要一定的激活能,超短脈沖電流處理可以促進(jìn)結(jié)構(gòu)缺陷的遷移和湮沒(méi),直至發(fā)生單相納米晶化.超短脈沖電流處理過(guò)程中電子運(yùn)動(dòng)速度的周期性變化使非晶中空位型結(jié)構(gòu)缺陷受到很大的推力作用,當(dāng)這一推力作用足以克服能量勢(shì)壘進(jìn)行長(zhǎng)程擴(kuò)散時(shí),則發(fā)生空位型結(jié)構(gòu)缺陷的

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