面向VLSI的低成本容錯(cuò)結(jié)構(gòu)研究.pdf

1、該文研究了面向超大規(guī)模集成（VLSI）數(shù)字系統(tǒng)的低成本容錯(cuò)結(jié)構(gòu)及其在線測(cè)試技術(shù).它包含如下內(nèi)容：第一,在N為奇數(shù)的差錯(cuò)可定位NMR結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,提出了N為偶數(shù)的相應(yīng)差錯(cuò)可定位NMR結(jié)構(gòu)方案.第二,提出了一個(gè)具有部分健壯故障屏蔽能力的雙模冗余系統(tǒng)的新方案.第三,針對(duì)傳統(tǒng)的故障安全雙模冗余結(jié)構(gòu),提出了一個(gè)稱(chēng)為交替互補(bǔ)轉(zhuǎn)換器的故障安全接口的門(mén)級(jí)電路方案,它只要求兩個(gè)冗余模塊的輸出構(gòu)成交替互補(bǔ)矢量,但冗余模塊無(wú)須是自對(duì)偶實(shí)現(xiàn)的.這種故障安全系統(tǒng)

2、能夠糾正單個(gè)冗余模塊所產(chǎn)生的單固定型差錯(cuò).第四,提出了三種具有并發(fā)差錯(cuò)校正和并發(fā)差錯(cuò)定位能力的容錯(cuò)存儲(chǔ)器系統(tǒng).單模存儲(chǔ)器系統(tǒng)由一個(gè)采用差錯(cuò)控制碼的存儲(chǔ)器模塊與一個(gè)安全自校驗(yàn)的差錯(cuò)校正與檢測(cè)（C/D）電路構(gòu)成.對(duì)所提出的各種差錯(cuò)控制專(zhuān)用電路方案,該文用Active VHDL或Talent2000等工具進(jìn)行了門(mén)級(jí)模塊驗(yàn)證,并估計(jì)了它們的硬件復(fù)雜性和傳輸延遲.對(duì)容錯(cuò)存儲(chǔ)器方案,該文還另外分析了它們的差錯(cuò)校正或檢測(cè)能力、存儲(chǔ)容量的冗余度和可靠度