2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、一般來說測量和調(diào)整發(fā)射功率影響最大的是線路衰減,大部分測試工程師的工作就是檢測線路衰減的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。通常線路衰減指的是:在測試單元射頻輸出到自動化測試設(shè)備之間的射頻電纜、射頻開關(guān)和射頻連接器的所有損耗。因此,射頻衰減在自動化測試設(shè)備到測試單元之間的功率測量結(jié)果為:
   測試單元射頻輸出功率(dBm)=自動化測試設(shè)備功率(dBm)+線路衰減(dB)
   然而,測量測試單元的射頻輸出功率是不能像公式寫的那樣很精準(zhǔn)的去測量。

2、在現(xiàn)實中,可能會出現(xiàn)許多不正確或不相干的信號源的干擾從而引起在測量時發(fā)生偏差。測量的偏差和如何減少它們的影響我將會在我的論文中描述。在此我想說的在測量中的一個不確定因素就是自動化測試設(shè)備它自己,依據(jù)實驗的結(jié)果它一般會產(chǎn)生+/-0.5 dB的偏差。為了減小測試單元的射頻輸出功率的測量偏差,Cal-Cart在測量時包含了這個自動化測試設(shè)備的設(shè)備損耗(參考一個電源表)作為一部分線路衰減的參考值。因此這個Cal-Cart的線路衰耗定義就是:

3、r>   Cal-Cart的線路衰耗(或指線路衰耗)是在測試單元和自動化測試設(shè)備之間的設(shè)備的正負(fù)絕對值的誤差。(可以在其中串聯(lián)的一個電源表來測量)
   雖然把自動化測試設(shè)備的誤差算到了線路衰減中是很重要的,但關(guān)鍵的Cal-cart的準(zhǔn)確性是靠電源分離器。這個電源分離器會連接在一個已較準(zhǔn)過的電源,然后再參考之前所提到的電源表,來測量整個線路的衰減。
   在某些情況下它是被要求絕對精準(zhǔn)的測量出來,例如在實驗室中。但是在

4、我們的生產(chǎn)線和普通環(huán)境下,環(huán)境因素就不可能那么精確的測量出來。的確,在不確定的設(shè)備中測試數(shù)據(jù)只要其絕對數(shù)據(jù)誤差小于+/-0.2 dB并且這個趨勢一直保持我們就是可接受的。雖然很難去達(dá)成如此高的精度,但它可以依照如下方式來做:
   ·Cal-Cart測量自動化測試設(shè)備的線路衰減,并依照GageR&R的固定時間表來描繪射頻衰減的狀況。我們通過研究它就能找到衰減的具體情況了。
   ·保持測試車測試時的室溫穩(wěn)定。用于測量的儀

5、器是對溫度非常敏感的。(測試設(shè)備有:VSA,Momentum,CMU200,等等測試設(shè)備)
   ·確保在測試臺中測試的手機(jī)射頻接口有至少20dB的衰減反饋。請注意,射頻耦合器和一些觸針等組成的射頻接口是不能校準(zhǔn)的,因為他們不是實際用于測試的測試臺接口。我們可以用FinalUI的射頻接口和信號功率控制器(CMU2000,8960)等設(shè)置一個相關(guān)的衰減補(bǔ)償。因此,F(xiàn)lali的線路衰耗測量就顯得尤為重要了。只要能測量好它就能保證手機(jī)

6、后面的射頻測試。
   接下來,我將介紹一下相關(guān)測試所用的測試臺。一般在生產(chǎn)中測試臺分三大類,接下來我將逐一介紹:
   Flali(Flash and alignment)測試臺用于刷新開機(jī)程序,精細(xì)的檢測射頻回路并且調(diào)整一些基帶測試值。生產(chǎn)時,會有操作員或機(jī)械手來完成主板的拿取,在測試臺內(nèi)部會有兩個卡具分為上卡具和下卡具分別咬合來固定主板,并且連接好測試點(diǎn)。
   FU(Final and UI)測試臺用于測

7、試組裝好的手機(jī)。它將檢查手機(jī)的用戶界面,例如鍵盤,顯示屏,攝像頭,和音頻系統(tǒng)(MIC&EAR)。射頻的測試將會用耦合或檢測點(diǎn)的方式來檢查,射頻方面僅對呼叫做測試,所有關(guān)于信號及波形的調(diào)整應(yīng)該在FLALI測試臺做。
   LABEL測試臺用于選擇不同的語言包(程序其實已經(jīng)在FLALI或Panel Flash灌好了)IMEI程序和標(biāo)簽打印。LABEL可以做許多種測試,但一般絕大部分的測試應(yīng)該已經(jīng)在之前的測試階段就做好了。
  

8、 由于日新月異的手機(jī)發(fā)展,導(dǎo)致需要測試的項目越來越多。怎么能讓上面介紹的設(shè)備在最短的時間內(nèi)完成手機(jī)的全部測試就是我們需要研究的課題。應(yīng)該說,以前的技術(shù)已經(jīng)不能很好的完成短時間測試,我們必須要找到一個新的方法。非信令測試就是在這種情況下應(yīng)運(yùn)而生的,它取代了以往每測試一項信號,需要建立連接,傳輸指令到測試臺的老方法,取而代之的是通過信令集成一束同一發(fā)給測試臺,同個軟件及測試臺公共完成整體測試。這樣更簡單、快捷、高效地完成了整部手機(jī)的測試,

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