兩種引發(fā)體系下30％陽離子度PDA制備工藝初步研究.pdf

1、本文研究了合成30％陽離子度PDA的聚合工藝。以工業(yè)一步法單體二甲基二烯丙基氯化銨(DMDAAC)和工業(yè)丙烯酰胺(AM)為原料，過硫酸銨(APS)-亞硫酸氫鈉(RH)或過硫酸銨-偶氮二異丁腈(AIBN)為引發(fā)劑，采用水溶液聚合方式，對聚合工藝進行了研究。 在已有文獻基礎(chǔ)上選用未經(jīng)精制的工業(yè)單體，通過對引發(fā)劑用量、單體起始總含量、聚合反應(yīng)溫度3個因素的初步優(yōu)化得到基礎(chǔ)工藝，在此工藝基礎(chǔ)上加入助劑Na4EDTA，通過對上述3個因素及

2、Na4EDTA用量的正交優(yōu)化，得到了特征黏度為8.65 dL·g-1，總殘余雙鍵含量為25.65％的產(chǎn)物及其相應(yīng)的聚合工藝。 探索了APS-AIBN復(fù)合引發(fā)體系下的聚合工藝。通過APS引發(fā)劑用量、Na4EDTA用量、單體起始總含量和聚合反應(yīng)溫度4個因素的正交優(yōu)化及熟化溫度，AIBN用量，熟化時間3個因素的單因素實驗，得到了特征黏度為8.98 dL·g-1，總殘余雙鍵含量為26.50％的產(chǎn)物及其相應(yīng)的聚合工藝。 結(jié)果表明，

3、通過加入Na4EDTA，可使反應(yīng)體系中引發(fā)劑用量、單體起始總含量、聚合反應(yīng)溫度在原有基礎(chǔ)上上調(diào)，有利于在保持產(chǎn)物特征黏度基礎(chǔ)上降低總殘余雙鍵含量，同時Na4EDTA的加入也提高了采用APS-RH引發(fā)體系制備所得產(chǎn)物性質(zhì)的穩(wěn)定性。使用油溶性引發(fā)劑AIBN與APS的復(fù)合引發(fā)體系可以使熟化溫度提高，促使二次引發(fā)，進而縮短反應(yīng)所需時間，使產(chǎn)物的特征黏度值在原有APS工藝基礎(chǔ)上略為提高。上述研究結(jié)果對于30％陽離子度PDA的進一步研究具有一定的參