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文檔簡介
1、正弦擬合算法是IEEE標準中定義的算法，具有測試精度高、穩(wěn)定性好等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器(analog-to-digital converter, ADC)的動態(tài)參數(shù)測試。而隨著ADC分辨率和芯片集成度的提高，該算法不能完全適應(yīng)ADC測試，如何實現(xiàn)高分辨率ADC的快速、精確測試是一個亟待解決的問題。
本文開展基于極大似然估計的正弦擬合算法的高分辨率ADC測試研究，重點解決該算法由于估算參數(shù)過多而帶來的測試時間長的問題，從而
2、實現(xiàn)快速測試ADC。該算法共兩部分:轉(zhuǎn)換電平和初值的獲取，似然方程的求解。本論文首先利用參數(shù)譜估計方法獲取待測ADC的轉(zhuǎn)換曲線，再利用切比雪夫變換的可逆性，獲得輸入關(guān)于輸出碼的函數(shù)，從而快速獲得轉(zhuǎn)換電平。然后本文采用差分進化算法求解似然方程并優(yōu)化其中參數(shù)。最后，本文利用頻率估計和三參數(shù)正弦擬合算法確定初始值。
針對14位ADC，本文所提方法仿真結(jié)果信納比為76.53dB，有效位數(shù)為12.42位?；谛酒珹DS6243的測試結(jié)果
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