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文檔簡介
1、隨著深亞微米技術的發(fā)展,嵌入式存儲器在片上系統(tǒng)芯片(SoC)上占有越來越多的比重。由于嵌入式存儲器中晶體管密集,存在高布線密度、高復雜度和高工作頻率等因素,很容易發(fā)生物理缺陷。因此,研究高效率的測試算法,建立有效地嵌入式存儲器測試方法,對提高芯片成品率,降低芯片生產(chǎn)成本具有十分重要的意義。測試算法是存儲器測試的核心內容。算法的推導需要在故障覆蓋率和算法復雜度上進行折衷。因此,如何得到低復雜度、高故障覆蓋率的算法,是算法研究的難點。同時,
2、存儲器內建自測試(MBIST)電路作為附加測試電路,要求具有盡可能小的面積及功耗,而且不能影響存儲器電路的正常工作。 本文從單一單元故障和耦合故障的13種存儲器故障類型的研究出發(fā),針對每種故障原語提出對應的March測試算法,通過這些測試算法的優(yōu)化合并,推導出65nm工藝要求下的新型March28算法,新算法可以檢測所有現(xiàn)實的連接性故障、單一單元故障、耦合故障和數(shù)據(jù)保持故障,并且復雜度減少12.5%。對于用戶自定義March算法
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