半導電聚合物表面突起測量儀的研究.pdf

1、半導電屏蔽材料是中高壓電力電纜必須的配套材料，一般認為半導電屏蔽層起到均勻電場的作用。長期運行經驗說明半導電屏蔽層對電纜使用壽命有較大關系。半導電層突起會引起局部放電的發(fā)生，這些對電纜有潛在影響。
　　 本文以半導電聚合物為檢測對象，研究了適合于表面突起檢測的技術，分別利用線結構光原理和形態(tài)學處理方法進行分析，有效的提取突起的尺寸信息，基本完成對半導電聚合物表面突起的檢測。
　　 本文利用線結構光原理對突起進行了相關實驗

2、，以面陣CCD(Charge-coupledDevice)為核心器件，搭建了基于線結構光測量系統(tǒng)，對激光條紋圖像進行分析處理。根據圖像直方圖特性分割突起條紋，得到激光條紋光帶，并且設計了幾種提取激光條紋中心的方法，通過對比分析，灰度重心法和曲線擬合法適合條紋中心的提取。然而，由于現有的激光器的技術指標，鏡頭的分辨率限制無法達到測量的要求，實驗驗證此方法達不到預期檢測。通過對突起的形狀特點分析，提出了一種利用形態(tài)學的模糊檢測方法，將線激光