晶體硅太陽能組件功率損失研究.pdf

1、本文以“提高組件的功率”為研究方向,進行了以下幾方面的研究:
　　1、太陽能組件功率的研究
　　研究了電池片封裝成組件后的功率損耗,得出以下結論:
　　(1)、提高組件光學增益的有效方法是使用高透光率的鋼化玻璃和用藍光響應好的電池,同時匹配藍光透過率高的EVA和反射率高的背板;
　　(2)、焊帶電阻的功率損失占組件電學損失的比例高達80％,因此降低組件電學損失的有效方法是降低焊帶電阻;
　　(3)、焊帶與電

2、池接觸電阻的功率損失很小,一般在1%以下,通常不用考慮;
　　(4)、在相同的電池轉換效率下,降低電池片的串聯(lián)電阻,可以降低組件最大功率點的電流,降低串聯(lián)電阻的功率損耗,提高組件的輸出功率。
　　2、太陽能電池片轉換效率的研究
　　著重研究了串聯(lián)電阻對電池片轉換效率的影響,得到以下結論:
　　(1)、電池片的串阻與轉換效率是反向關系,串阻越小轉換效率越高;
　　(2)、電池片的串阻與溫度呈正向關系,其測量值

3、與I、V取值點有關;
　　(3)、電池片串阻的各組成部分中,體電阻、表面薄層電阻、主柵線電阻和細柵電阻都可以精確計算,但接觸電阻采用傳統(tǒng)的TLM法測量存在誤差。
　　3、電池片接觸電阻測試方法的研究。
　　通過建立金屬-半導體界面的電壓、電流方程推導出不同電流模式下三種接觸電阻的表達式,在傳統(tǒng)的TLM法的基礎上提出三種新的測量方法:DSTLM測試法、SSTLM測試法和改進ER測量法,得到以下結論:
　　(1)任意

4、一個接觸電阻表達式可以由的其它兩個接觸電阻簡單計算,不用去計算比接觸電阻率和接觸界面的薄層方塊電阻。
　　(2)DSTLM法測試精確高,但需要制作專門的測試圖形,不方便在太陽能電池上運用;
　　(3)SSTLM測試法不需制作專門的測試圖形,擴散時準確測出表面薄層電阻就可以直接測試接觸電阻,方便在太陽能電池上運用。
　　(4)改進后的ER測量法,突破了平行電極只能是3條的限制,擴展了端電阻法的測試電極的數(shù)量。