基于SJTAG的系統(tǒng)級測試研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著邊界掃描測試技術(shù)的不斷深入研發(fā)，它已經(jīng)突破了傳統(tǒng)管腳接觸式測試理論和手段，解決了傳統(tǒng)技術(shù)所不能完成的大規(guī)模集成電路的檢測。雖然邊界掃描技術(shù)針對不同的測試類型和測試任務(wù)，形成了一系列的國際標(biāo)準，但在系統(tǒng)級測試方向，仍然缺乏一個行之有效的通用的國際標(biāo)準。
　　本文針對目前系統(tǒng)級測試的實現(xiàn)方案進行了深入研究，并結(jié)合 SJTAG（System Joint Test Action Group）工作組提出的系統(tǒng)級測試建議，從硬軟兩方面改進

2、了系統(tǒng)級測試。一方面搭建了以1149.1協(xié)議為基礎(chǔ)，JTAG總線為架構(gòu)的系統(tǒng)級測試系統(tǒng)硬件環(huán)境。該測試系統(tǒng)以主從方式鏈接，由一塊主控板和多個測試單板組成。主控板發(fā)出JTAG測試總線，各個測試單板都與測試總線并行鏈接。主控板控制測試單板的選通與斷開，也同時控制測試單板上邊界掃描測試。另一方面，在已有測試平臺條件下，對已有的軟件的測試程序和測試算法做了部分改善，使其可以更適應(yīng)系統(tǒng)級測試要求，較好的完成系統(tǒng)級測試任務(wù)。
　　本文采用硬件

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