基于93000ATE系統(tǒng)的高速高分辨率ADC集成芯片測試技術(shù)研究.pdf

1、隨著近年來電子信息技術(shù)的迅猛發(fā)展，ADC(Analog to Digital Converter)技術(shù)也隨之向著高速和高分辨率方向不斷發(fā)展。ADC，即模數(shù)轉(zhuǎn)換器是現(xiàn)實模擬世界中模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量的關(guān)鍵接口器件。因此，ADC在信息產(chǎn)業(yè)技術(shù)的多個領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。而隨之分辨率和速度的不斷提高，這就給如何對其動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)進行準確的測試帶來了前所未有的挑戰(zhàn)。眾所周知，所有的商用化芯片最終都要依賴于ATE(Automatic Test

2、 Equipment)設(shè)備進行量產(chǎn)測試。但由于各類ATE測試系統(tǒng)的性能提升明顯落后于ADC產(chǎn)品性能的高速發(fā)展，因此，對于超高速、高分辨率的ADC產(chǎn)品可能會面臨無法基于現(xiàn)有ATE測試平臺進行量產(chǎn)測試的問題，或面臨配置有超高性能模擬模塊的ATE裝機少、測試成本昂貴的問題。由此可見，如何有效地解決基于ATE設(shè)備的高速高分辨ADC的測試問題，是有其現(xiàn)實的意義和價值的。本課題項目的目標就是努力解決這樣的問題。
　　 本文以一款A(yù)DI公司分

3、辨率為12bit、最高采樣速率為125MHz、輸入帶寬為650MHz的AD9233 ADC芯片為例。因為其高于125MHz的高頻部分，在現(xiàn)有的ATE設(shè)備中無法得到測試，所以將采用在ATE之上外加測試信號源的解決方案。這也正是本文主要的創(chuàng)新點所在。首先對ADC的設(shè)計與測試在國內(nèi)外的發(fā)展狀況作了簡要的介紹；接下來對與ADC測試相關(guān)的測試理論作了逐一的闡述，給出了ADC主要靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)的定義方式，對碼密度直方圖法、快速傅里葉變換法(FF