Windows平臺(tái)下描繪式顯微顆粒測量系統(tǒng)開發(fā)及顆粒邊緣自動(dòng)檢測研究.pdf

1、該文論述的對象是圖形描繪(TD)式顯微顆粒計(jì)算機(jī)測量系統(tǒng).主要分析軟件的需求,論述Windows平臺(tái)下測量系統(tǒng)軟件測試與調(diào)試、面向?qū)ο蟆⒃O(shè)備驅(qū)動(dòng)、管理與通信(進(jìn)程、線程)等技術(shù)和原理,并據(jù)此制作完成高分辨率、低誤差值、高可靠性、高實(shí)用性的顆粒測量軟件.同時(shí)對攝像(TV/DC)式顯微顆粒計(jì)算機(jī)測量中的關(guān)鍵技術(shù)--邊緣檢測(圖像分割)進(jìn)行了新的探索.該文及軟件以顆粒尺寸(長度、粒度)和方位測量為基本內(nèi)容.顆粒尺寸測量包括粒度和粒度分布參數(shù)及

2、圖形;長徑比及長徑分布,徑厚比及直徑分布;方位測量包括方位分布及制圖等.該文的重點(diǎn)在于深入闡述了Windows操作系統(tǒng)并行(進(jìn)程與線程)處理技術(shù)的原理、實(shí)現(xiàn)及其設(shè)備驅(qū)動(dòng)的程序的原理、開發(fā)方法及實(shí)現(xiàn);并結(jié)合目前流行軟件的面向?qū)ο蟮拈_發(fā)方法,介紹了測量系統(tǒng)軟件的實(shí)現(xiàn)的過程.該文及軟件取得重要的突破就是在光學(xué)顯微鏡下測量數(shù)據(jù)處理精度(分辨率)可達(dá)到0.08微米,操作方便而且穩(wěn)定可靠;配合電子顯微鏡,完全可以在納米級水平上進(jìn)行樣品測量、數(shù)據(jù)處理