基于SystemVerilog語(yǔ)言功能驗(yàn)證平臺(tái)的研究與應(yīng)用.pdf

1、全面快速的設(shè)計(jì)驗(yàn)證是芯片設(shè)計(jì)成功的關(guān)鍵所在,當(dāng)前業(yè)界在驗(yàn)證方面關(guān)注的焦點(diǎn)是功能驗(yàn)證。但是隨著芯片的功能越來(lái)越多,結(jié)構(gòu)越來(lái)越復(fù)雜,導(dǎo)致驗(yàn)證的工作量大大增加,當(dāng)人們用傳統(tǒng)的驗(yàn)證工具和方法難以按時(shí)完成驗(yàn)證工作時(shí),就出現(xiàn)了所謂“驗(yàn)證危機(jī)”。
　　為了適應(yīng)這種形勢(shì),芯片驗(yàn)證的工具和方法正在發(fā)生迅速而深刻的變革?，F(xiàn)在基于RTL(Register Transmit Level)語(yǔ)言的驗(yàn)證方法正在向基于系統(tǒng)級(jí)語(yǔ)言的驗(yàn)證方法過(guò)渡,導(dǎo)致了高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言

2、的出現(xiàn)和標(biāo)準(zhǔn)化,基于高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言的驗(yàn)證方法學(xué)逐漸成為解決眾多驗(yàn)證問(wèn)題的一條有希望的途徑。
　　本論文的工作重點(diǎn)就是通過(guò)研究基于高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言的驗(yàn)證方法學(xué),提出一種基于高級(jí)驗(yàn)證語(yǔ)言并綜合利用直接測(cè)試、約束隨機(jī)測(cè)試、面向?qū)ο缶幊?、層次化設(shè)計(jì)、覆蓋驅(qū)動(dòng)驗(yàn)證和基于斷言的形式化屬性檢查驗(yàn)證等多種驗(yàn)證技術(shù)的事務(wù)級(jí)驗(yàn)證方法,針對(duì)該驗(yàn)證方法的特點(diǎn)選擇了IEEE標(biāo)準(zhǔn)語(yǔ)言SystemVerilog語(yǔ)言作為實(shí)現(xiàn)該方法學(xué)的載體。
　　論文重點(diǎn)分析了驗(yàn)

3、證平臺(tái)及其層次的功能和設(shè)計(jì)方法,并將各個(gè)層次組合成完整的驗(yàn)證環(huán)境,分析了基于分層思想的驗(yàn)證平臺(tái)的設(shè)計(jì)方法,包括驗(yàn)證平臺(tái)中所含的驗(yàn)證組件的工作原理?；诜謱铀枷氲尿?yàn)證環(huán)境具有通用性,可根據(jù)被測(cè)對(duì)象的不同加以改動(dòng)以實(shí)現(xiàn)重用的目的。隨后通過(guò)驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)和工程實(shí)踐具體分析該驗(yàn)證平臺(tái)的優(yōu)缺點(diǎn)。
　　論文基于這種驗(yàn)證方法設(shè)計(jì)液晶顯示屏控制器(Liquid-Crystal Display Controller,LCDC)通用驗(yàn)證平臺(tái),使動(dòng)態(tài)仿真較傳