激光干涉測量技術(shù)及在電光陶瓷檢測中的應(yīng)用.pdf

1、無損干涉測量法結(jié)合圖像處理、信息光學(xué)技術(shù)，在缺陷檢測、材料性能監(jiān)測等方面的研究，是目前研究熱點之一。本論文研究了基于光纖系統(tǒng)的電子散斑干涉技術(shù)和數(shù)字全息干涉技術(shù)，建立了相應(yīng)的實驗系統(tǒng)，改進了光學(xué)圖像處理中使用的各種算法，并對實驗樣本進行了有效的監(jiān)測和分析。 電子散斑干涉技術(shù)(ESPI)是在分析物體變形和振動的各種光學(xué)方法中最為實用和有效的方法之一。ESPI的主要優(yōu)勢在于它記錄全息干涉圖和分析數(shù)據(jù)的簡易性以及實時觀察物體的可能性。

2、而且，通過相位測量算法可以獲得定量的相位信息。在本文中，我們先后建立了空間電子散斑干涉系統(tǒng)和光纖電子散斑干涉系統(tǒng)。實時采集散斑圖像并對圖像進行處理分析。選擇并改進各種圖像后處理算法，集成為友好的散斑圖像采集及分析軟件系統(tǒng)。 在此基礎(chǔ)上，我們建立了數(shù)字全息干涉測量系統(tǒng)，實現(xiàn)全息圖的記錄和重現(xiàn)。針對圖像重現(xiàn)和解包裹的問題，通過有效的算法良好的重現(xiàn)了物光特性。結(jié)合電光陶瓷PLZT樣本的實際檢測，監(jiān)測PLZT全場相位的變化，通過分析其在