蟻群算法在集成電路布線問(wèn)題中的應(yīng)用.pdf

1、隨著集成電路規(guī)模的不斷增大、特征尺寸不斷減小，時(shí)鐘頻率越來(lái)越高，給集成電路工藝技術(shù)和生產(chǎn)技術(shù)(設(shè)備和材料)以及設(shè)計(jì)生產(chǎn)率等諸多方面的問(wèn)題帶來(lái)了更多的技術(shù)挑戰(zhàn)。其中一個(gè)非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié)是集成電路設(shè)備技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于集成電路的加工能力的發(fā)展。另一方面，隨著VLSI復(fù)雜性越來(lái)越高，其物理設(shè)計(jì)中的許多問(wèn)題目前已經(jīng)被證明是NP困難問(wèn)題，所以一個(gè)快速的高效的物理版圖設(shè)計(jì)必須依賴于先進(jìn)的EDA工具和先進(jìn)的設(shè)計(jì)方法。而在計(jì)算機(jī)智能領(lǐng)域，各種優(yōu)化技

2、術(shù)的蓬勃發(fā)展為解決非NP問(wèn)題、NP完全問(wèn)題和NP困難問(wèn)題提供了新的思路和解決方法。本文正是在這種背景下，討論計(jì)算智能方法在VLSI設(shè)計(jì)過(guò)程中最重要的一個(gè)環(huán)節(jié)--物理設(shè)計(jì)中的應(yīng)用。 VLSI工藝不斷發(fā)展，物理設(shè)計(jì)中的布線問(wèn)題的規(guī)模也急劇增大，傳統(tǒng)的優(yōu)化算法正面臨著計(jì)算量爆炸、容易陷入局部極值和無(wú)法接近全局最優(yōu)的難題，所以必須尋找更有效的優(yōu)化方法。本文首先結(jié)合旅行商問(wèn)題(TSP)介紹了基于仿生特性的蟻群算法原理；隨后介紹了VLSI物