X射線測厚儀的硬件設計與實現.pdf

1、薄膜厚度的均勻性是雙向拉伸塑料薄膜的一個極其重要的質量指標。在自動化程度較高的薄膜生產線中，薄膜厚度都是采用精度較高的非接觸式測厚儀和反饋控制系統(tǒng)進行自動檢測和控制的。本文介紹了一種新型在線檢測設備的硬件設計原理，研制的x射線測厚儀應用在雙向拉伸塑料薄膜生產線上，取得了理想的測量和控制效果。
　　 首先，論文對當今工業(yè)生產中的在線與非在線測厚技術進行了簡要的介紹，深入分析了各種在線測厚儀的優(yōu)缺點。本課題選擇了x射線作為測厚儀的射

2、線源。文章分析了x射線的發(fā)射、接收原理，使用的C、K值薄膜厚度測量算法，經過實踐檢驗，能夠滿足工廠實際生產的需要。
　　 其次，測厚儀探頭部分的設計是實現整個系統(tǒng)的關鍵環(huán)節(jié)，將x射線探測器、制冷系統(tǒng)、供電系統(tǒng)相結合，構成了系統(tǒng)掃描探頭。本文對該部分的設計原理和實現方法做了詳細的說明，并對掃描機架的選擇和使用做了介紹。
　　 詳細闡述了測厚儀電控系統(tǒng)的設計原理與實現過程。本論文提出了以PLC為電控核心的控制系統(tǒng)，整個系統(tǒng)具